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[국가R&D연구보고서] 전자빔 기반 나노 측정 장비 개발 과제
Development of electron beam based nano-metrological equipment 원문보기

보고서 정보
주관연구기관 코닉시스템(주)
연구책임자 곽신웅
보고서유형연차보고서
발행국가대한민국
언어 한국어
발행년월2008-09
과제시작연도 2008
주관부처 지식경제부
연구관리전문기관 한국산업기술평가원
등록번호 TRKO201000010449
과제고유번호 1415087772
사업명 제조기반전략기술개발
DB 구축일자 2015-01-08
키워드 SEM.FE-SEM.electron gun.Vacuum system.specimen chamber.electromagnetic lens system.stage.column.

초록

방출전자의 총 전류 및 시료에 도달하는 에너지를 결정짓는 전자총은 전자현미경의 질을 결정짓는 가장 중요한 부분 중에 하나이다. 일반적으로 전자총의 열전자형, 전계 방출형 그리고 열 전계 방출형 3가지로 구분이 된다. 최종 목표인 전계 방출형 전자현미경의 개발을 위하여 열전자 및 전계방출형 전자총 두 가지가 개발되었다. 열전자형 전자총의 경우 경통부의 안정성 평가를 손쉽게 하기 위하여 함께 개발되었다. 전계 방출형 전자총의 경우는 시스템 조립 시 초고진공도를 요구하기에 시스템 셋업 및 테스트의 긴 소요시간이 요구 되기 때문이다.

목차 Contents

  • 진도보고서 제출서 세부주관기관용 ...1
  • 진도보고서 ...2
  • I. 당해연도 추진 실적 ...3
  • I-1 기술개발 추진 일정 ...3
  • I-2 당해 연도 추진 실적 ...4
  • II. 기술개발결과 ...5
  • 가. 전자현미경 개발...5
  • 1. 전자총 (Electron gun) ...5
  • 2. 전자광학 system ...18
  • 3. Specimen handling system ...34
  • 4. Vacuum system ...42
  • 5. Image test ...61
  • III. 결론 및 향후계획 ...64
  • 1. 결론 ...64
  • 2. 향후 계획 ...65
  • IV. 사업비 사용현황(위탁기관) ...70
  • V. 기업 재무건전성 현황 ...71
  • 세부과제에 대한 대표자의 평가의견서 ...72

참고문헌 (25)

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