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NTIS 바로가기주관연구기관 | 숭실대학교 Soongsil University |
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연구책임자 | 장훈 |
보고서유형 | 최종보고서 |
발행국가 | 대한민국 |
언어 | 한국어 |
발행년월 | 2010-04 |
과제시작연도 | 2009 |
주관부처 | 교육과학기술부 |
사업 관리 기관 | 한국연구재단 |
등록번호 | TRKO201000013504 |
과제고유번호 | 1345105295 |
사업명 | 일반연구자지원 |
DB 구축일자 | 2013-04-18 |
키워드 | 내장메모리.메모리내장자체테스트.프로그래머블MBIST.다단구조메모리접근.embedded memory.Memory BIST.programmable MBIST.cascade memory access. |
본 과제에서는 기존의 내장 자체 테스트(BIST : Built-In Self Test)가 가지고 있는 하나의 알고리즘만을 지원하는 단점을 보완하여 여러 개의 알고리즘을 제공하는 프로그래머블 내장 자체 테스트 기술을 개발하였다. 또한 이종의 메모리에 다단 구조의 접근을 통하여 시간 복잡도를 낮추고 테스트 회로의 배선 오버헤드를 줄였다
In this project, we have researched programmable memory BIST scheme which supports the various memory test algorithms. It covered disadvantages of previous memory BIST supporting only one algorithm. And developed scheme has cascade memory access architecture to reduce time complexity and overhead of
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