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Kafe 바로가기주관연구기관 | 엑시콘 |
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연구책임자 | 오세장 |
보고서유형 | 최종보고서 |
발행국가 | 대한민국 |
언어 | 한국어 |
발행년월 | 2016-10 |
과제시작연도 | 2015 |
주관부처 | 산업통상자원부 Ministry of Trade, Industry and Energy |
등록번호 | TRKO201800039715 |
과제고유번호 | 1415142580 |
사업명 | 신성장동력장비경쟁력강화 |
DB 구축일자 | 2018-11-03 |
키워드 | 자동화 테스트 장비.시스템온칩.어플리케이션 프로세서.타이밍발생기.드라이버칩. |
□ 핵심기술
-. Pattern 발생 장치와 Timing 측정 장치를 통해 AP와 SoC의 자동검사 장치 개발(Digital 6,144Ch, DPS 384Ch, HCDPS 8Ch)
□ 최종목표
-. 250MHz SoC Digital Test System 개발
(Digital 6,144Ch, DPS 384Ch, HCDPS 8Ch)
-. 각 Module내 회로 집적화를 통한 설비 Compact화 구현
-. 자체 개발 Driver IC 활용 방안 강구
□ 개발내용 및 결과
-. 2
□ 핵심기술
-. Pattern 발생 장치와 Timing 측정 장치를 통해 AP와 SoC의 자동검사 장치 개발(Digital 6,144Ch, DPS 384Ch, HCDPS 8Ch)
□ 최종목표
-. 250MHz SoC Digital Test System 개발
(Digital 6,144Ch, DPS 384Ch, HCDPS 8Ch)
-. 각 Module내 회로 집적화를 통한 설비 Compact화 구현
-. 자체 개발 Driver IC 활용 방안 강구
□ 개발내용 및 결과
-. 250MHz Pattern 발생 장치와 Timing 측정 장치 개발
-. High Voltage 및 High Current Power Board 개발
-. 복수의 Digital I/O 신호의 System 동기화 개발
□ 기술개발 배경
-. 국내 수요 기업의 사업 확장 / 강화
-. 국산 장비 도입 요구 증가
-. 공정 미세화에 따른 제품 테스트 장비 수요 증가
-. 시스템 반도체 산업 정부 지원 정책 강화
□ 핵심개발 기술의 의의
-. SoC Tester 국산 설비 부재로 100% 외산장비에 의존
-. 주요 Chip Maker의 외산 설비 대체 및 국내 Fabless 개발 업체의 제작 원가 절감을 위한 시스템 설비의 수요 발생 기대
-. 시장 경쟁력을 갖춘 SoC Digital Test System 국산화 개발이 필요
□ 적용 분야
-. AP(Application Processor)를 포함한 SoC(CIS, DDI, PMIC 등) 제품의 다양한 요구 대응을 위한 유연한 플랫폼을 채용한 장비 적용 개발
( 출처: 최종보고서 초록 - 3. 개발결과 요약 5p )
과제명(ProjectTitle) : | - |
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연구책임자(Manager) : | - |
과제기간(DetailSeriesProject) : | - |
총연구비 (DetailSeriesProject) : | - |
키워드(keyword) : | - |
과제수행기간(LeadAgency) : | - |
연구목표(Goal) : | - |
연구내용(Abstract) : | - |
기대효과(Effect) : | - |
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