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OLED의 열화기구에 관한 미시적 원인 분석
Micro-analysis of degradation mechanism for OLED 원문보기

보고서 정보
주관연구기관 부산대학교
Busan National University
연구책임자 조영래
참여연구자 오정섭 , 안병건 , 성명석 , 신허영 , 김태식
보고서유형최종보고서
발행국가대한민국
언어 한국어
발행년월2005-06
주관부처 정보통신부
사업 관리 기관 정보통신산업진흥원
등록번호 TRKO201000017530
DB 구축일자 2013-04-18

초록 ▼

◆ 본 과제에서는 유리 기판 혹은 플라스틱 기판에 형성한 OLED에 여러 종류의
부하(온도, 습도, 기계적 응력)를 인가할 때 OLED의 손상기구를 미시적으로 분석
하는데 포크씽 함.
◆ 형성된 OLED는 외부기관에서 outsourcing해서 사용할 예정임. 이때 본 연구
팀에서는 연구 인력을 파견시켜 OLED를 공동으로 제작할 예정임. 본 과제가 수
행되면 곧 바로 OLED를 공급할 국책연구소와 연구센터는 이미 정해져 있기 때문
에 연구에 문제가 없음.
◆ 본 연구팀에서는 전자부품의 신뢰성분석

Abstract ▼

Static and cyclic bending tests were carried out using a home­made
machine, and samples for the cyclic test were rectangular samples
measuring 40x80 mm with the width of ITO electrode was 500 μm. Cyclic
bending tests were carried out at 0.5 herz, with a constant linear vertical
moving wi

목차 Contents

  • 표지 ...1
  • 제출문 ...3
  • 요약문 ...4
  • SUMMARY ...10
  • 목차 ...12
  • Contents ...13
  • 그림목차 ...14
  • 제1장 서 론 ...16
  • 제1절 연구의 필요성 ...16
  • 제2절 연구의 목표 및 핵심내용 ...17
  • 제3절 추진체계 및 전략 ...17
  • 제4절 본 과제의 독창성 ...18
  • 제5절 기대성과 및 활용방안 ...19
  • 제2장 본 론 ...21
  • 제1절 실험방법 ...21
  • 제2절 실험결과 및 고찰 ...26
  • 제3절 실험의 결론 ...36
  • 제3장 총괄 결론 ...38

참고문헌 (25)

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