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NTIS 바로가기주관연구기관 | 서울대학교 Seoul National University |
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연구책임자 | 전동렬 |
보고서유형 | 최종보고서 |
발행국가 | 대한민국 |
언어 | 한국어 |
발행년월 | 2011-04 |
과제시작연도 | 2010 |
주관부처 | 교육과학기술부 |
사업 관리 기관 | 한국연구재단 |
등록번호 | TRKO201200002862 |
과제고유번호 | 1345120560 |
사업명 | 일반연구자지원 |
DB 구축일자 | 2013-05-20 |
키워드 | 유기물 소자.금속/유기물 계면.전하 주입.전하 트랩.계면 구조.접촉 저항.실시간 푸리에 변환 적외선 분광.표면 거칠기.전위장벽.organic electronic devices.metal/organic interface.charge injection.charge trap.interface structure.contact resistance.in-situ Fourier transform infrared spectroscopy.surface roughness.barrier height. |
유기물 전자 소자에서 전하 트랩, 전극/유기물 경계면에 침투한 전극 금속 입자, 산소 수분 등의 불순물 등이 전하 주입에 어떻게 영향을 주는지 조사하고 전하 주입 메커니즘을 이해하는 연구를 수행하였다. 다양한 금속과 유기물을 사용하여 소자를 만들고, 초고진공 환경에서 시료를 만들고 분석하여 트랩을 정량적으로 제어하면서 전기적 특성을 조사하고, 넓은 온도 범위에서 소자의 전기적 특성 변화를 실시간으로 연구하고, 시료를 절단하여 전극/유기물 단면의 구조와 전위 분포를 주사원자 힘 현미경과 전기력 현미경으로 조사하여 경계면의 전기적 특성
We performed this research is to understand how the charge trap, the metal penetration at the metal electrode/organic film interface, impurities such as water and oxygen affect the performance of organic electronic devices. Studying these in situ and to control the parameters accurately, the samples
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