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연합인증

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LDI Test를 위한 Probe Card 개발 원문보기

보고서 정보
주관연구기관 (주)마이크로티에스
연구책임자 이주화
참여연구자 오준민
보고서유형최종보고서
발행국가대한민국
언어 한국어
발행년월2010-04
과제시작연도 2009
주관부처 지식경제부
사업 관리 기관 정보통신산업진흥원
등록번호 TRKO201100000051
과제고유번호 1415098770
사업명 정보통신성장기술개발
DB 구축일자 2013-04-18
키워드 Probe Card.Blade Pin.Test Card.

초록

세라믹에 대한 Slicing 가공기술 개발을 통하여 Fine Pitch구현을 하고 Blade Pin을 개발하여 전기적 특성을 평가하고 내구성을 확보하며, 개발된 Blade Pin을 Ass'y하여 각각의 전기적 특성을 평가하여 Test 특성에 맞는 Data를 확보하며, 양산테스트를 진행하여 양산시 발생할수 있는 문제를 검증하고자 한다.
L사를 통한 Probe Card를 검증 결과 전체적으로 양호한 Data를 확보하였으며, 양산 가능 판정을 받았음.

목차 Contents

  • 제출문 ...1
  • 보고서 초록 ...2
  • 목차 ...9
  • 제 1 장 서론 ...10
  • 제 1 절 개발기술의 중요성 및 필요성 ...10
  • 제 2 절 국내.외 관련 기술의 현황 ...11
  • 제 3 절 기술개발 시 예상되는 기술적.경제적 파급 효과 ...13
  • 제 2 장 기술개발 내용 및 방법 ...15
  • 제 1 절 최종 목표 및 평가 방법 ...15
  • 제 2 절 단계 목표 및 평가 방법 ...15
  • 제 3 절 연차별 개발 내용 및 개발 범위 ...16
  • 제 3 장 결과 및 사업화 계획 ...18
  • 제 1 절 연구개발 최종 결과 ...18
  • 1. 연구개발 추진 일정 ...18
  • 2. 연구개발 추진 실적 ...19
  • 제 2 절 연구개발 추진 체계 ...26
  • - 각 기관/기업별 역할 및 추진 내역 ...26
  • 제 3 절 시장 현황 및 사업화 전망(당초 기술개발 시작 시점의 조사와 변화된 것 위주로 기술) ...27
  • 부록 ...27
  • 최종보고서 요약서 ...29
  • 수행기관 자체평가의견서 ...30

참고문헌 (25)

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