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NTIS 바로가기주관연구기관 | 한국외국어대학교 Hankuk University of Foreign Studies |
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연구책임자 | 이재혁 |
참여연구자 | 신기영 , 김근호 |
보고서유형 | 최종보고서 |
발행국가 | 대한민국 |
언어 | 한국어 |
발행년월 | 2006-12 |
과제시작연도 | 2006 |
주관부처 | 중소기업청 |
사업 관리 기관 | 중소기업기술정보진흥원 |
등록번호 | TRKO201100010779 |
과제고유번호 | 1420012112 |
사업명 | 산학연공동기술개발(균특) |
DB 구축일자 | 2013-04-18 |
1. 최종목표
본 과제에서는 LCD 모듈의 시야각에서 보이는 얼룩 중
1) Black 패턴에서 보이는 얼룩
2) Gray 패턴에서 보이는 얼룩
을 자동으로 검사할 수 있는 알고리즘 개발을 목표로 한다.
2. 개발내용 및 결과
전체 시스템 하드웨어 구조는 다음과 같다. 왼쪽의 LCD 패널에 여러 가지 테스트 영상을 띄운 후 카메라로 영상을 취득한다. 취득한 영상은 컴퓨터 메모리에 보관되고 소프트웨어를 작성하여 메모리에 깔린 영상 데이터를 이용하여 LCD 불량을 검사한다.
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