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NTIS 바로가기주관연구기관 | 위너TECH |
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연구책임자 | 최승일 |
참여연구자 | 정인남 , 조영봉 , 하관수 , 김인자 |
보고서유형 | 최종보고서 |
발행국가 | 대한민국 |
언어 | 한국어 |
발행년월 | 2008-07 |
주관부처 | 산업자원부 |
사업 관리 기관 | 산업자원부 Korea Institute for Industrial Economics and Trade |
등록번호 | TRKO201200003726 |
DB 구축일자 | 2013-05-20 |
키워드 | 커넥터.외장메모리 카드.T-Frash Card.휴대폰. |
1) 제품의 잠재적인 결함 및 불량을 사전에 제거할 수 있는 체계적인 신뢰성 시스템 구축
2) 신뢰성 향상을 위한 다양한 불량 인자의 진단 및 대응책 마련
3) 제품의 신뢰성 문제 해결을 위한 매뉴얼 개발하는 기초 자료 제공
4) 동종의 유사 제품에 대한 향후 불량진단 및 시스템 성능 예측을 위한 근거 제공
5) 유사 시스템 설계시 고장 예방을 위한 노하우 축적 가능
6) 잠재적 불량의 발생을 감소시키거나 제거할 수 있는 방법 제시
7) 제품의 신뢰성 인증으로 제조사의 신용도 상승 요인
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