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NTIS 바로가기주관연구기관 | (주)한국몰렉스 |
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연구책임자 | 김진환 |
참여연구자 | 윤병찬 , 김동수 , 김명완 |
보고서유형 | 최종보고서 |
발행국가 | 대한민국 |
언어 | 한국어 |
발행년월 | 2008-08 |
주관부처 | 지식경제부 |
사업 관리 기관 | 한국산업기술진흥원 |
등록번호 | TRKO201200004586 |
DB 구축일자 | 2013-05-20 |
키워드 | 찰과 부식.커넥터.와이어하네스.고장분석.내구수명. |
가. 필드 고장 메커니즘 분석(필드 고장사례 분석, 고품회수 및 분석, 고장메커니즘 분석)
나. 사용자 환경의 측정 및 분석
나. 시험실 환경의 열화 재현 및 분석, 열화 상관관계 분석
다. 자동차 환경을 고려한 수명 예측 시험법 개발
라. 와이어하네스 커넥터의 제품 개선 및 개선 효과 검증
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