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NTIS 바로가기주관연구기관 | 삼성전기(주) SamSung Electro Mechanics |
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연구책임자 | 석명국 |
참여연구자 | 김강동 , 허석환 , 박남규 , 정치용 , 김도영 |
보고서유형 | 최종보고서 |
발행국가 | 대한민국 |
언어 | 한국어 |
발행년월 | 2006-09 |
주관부처 | 산업자원부 |
사업 관리 기관 | 한국산업기술진흥원 |
등록번호 | TRKO201200004784 |
DB 구축일자 | 2013-04-18 |
키워드 | 가속평가.수명평가.다층 회로기판.열충격. |
1. 최종 목표
- 다층회로기판의 가속 계수 산출
; Accelerated Life Test(이하 ALT)의한 시장불량 재현
- 다층회로기판의 수명 예측 방법
2. 신뢰성 저해요인 정밀진단 내용
- 일반 다층 회로 기판 평가 방법
온도범위 : -55 ~ 125℃, 온도별 방치시간 : 15분, 변온시간 : 7분 이내, 평가 Cycle수 : 1000Cycle로 40여일이 소요되는 장기 평가로 제품 개발단축을 위해서는 가속평가가 필수적으로 요구됨.
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