$\require{mediawiki-texvc}$

연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

연합인증 절차는 다음과 같습니다.

최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용

그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용

연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.

차세대 평판 디스플레이용 고성능/고신뢰성 Zn 기반 산화물 반도체 재료 개발/소자 기술 개발
Development of high performance/high stability Zn-based oxide semiconductor and transistor for next-generation flat-panel display 원문보기

보고서 정보
주관연구기관 인하대학교 산학협력단
연구책임자 정재경
보고서유형최종보고서
발행국가대한민국
언어 한국어
발행년월2012-10
과제시작연도 2011
주관부처 교육과학기술부
사업 관리 기관 한국연구재단
등록번호 TRKO201300023309
과제고유번호 1345149749
사업명 기본연구지원사업(협동)
DB 구축일자 2013-08-26

초록

1차년도
○ 스퍼터링 동시증착 방법을 활용한 새로운 산화물 반도체 (Ti-In-Sn-O)박막 탐색 및 기초 물성 연구
○ Charge pumping 및 single pulse method를 이용한 산화물 박막 트랜지스터의 정밀 신뢰성 평가법 구축
2차년도
○ 동시 증착 RF 및 DC power, 산소분압, 챔버압력 등의 제어를 통한 최적 특성을 갖는 반도체 도출
○ ZrO2 도핑을 통한 ZTO TFT 소자 개발
○ MN rule을 이용한 IGZO 산화물 트랜지스터의 정밀 트랩 평가
3차년도

Abstract

1st year
○ Screening the oxide semiconductor thin film (Ti-In-Sn-O) by using co-sputtering system and investigation of their physical and electrical properties
○ The reliability evaluation of oxide thin film transistor using charge pumping and single pulse method
2nd year
○ Development

목차 Contents

  • 일반연구자지원사업 최종(결과)보고서 ... 1
  • 목차 ... 2
  • I. 연구결과 요약문 ... 3
  • II. 연구내용 및 결과 ... 4
  • 1. 연구과제의 개요 ... 4
  • 2. 국내외 기술개발 현황 ... 4
  • 3. 연구수행 내용 및 결과 ... 5
  • 4. 목표 달성도 및 관련 분야에의 기여도 ... 8
  • 5. 연구결과의 활용 계획 ... 10
  • 6. 연구과정에서 수집한 해외과학기술정보 ... 10
  • III. 연구성과 ... 11

표/그림 (5)

참고문헌 (25)

섹션별 컨텐츠 바로가기

AI-Helper ※ AI-Helper는 오픈소스 모델을 사용합니다.

AI-Helper 아이콘
AI-Helper
안녕하세요, AI-Helper입니다. 좌측 "선택된 텍스트"에서 텍스트를 선택하여 요약, 번역, 용어설명을 실행하세요.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.

선택된 텍스트

맨위로