초록 ▼

구분
1차년도(2009)
연구개발목표
- SEL 시험 시설현황 조사관련자료 확보 및 분석
- 부품별 SEL(SEGR 포함)검증기술 개발
- 전자부품에 대한 SEL 시험체계 구축
- 부품별 SEL 영향 평가
연구개발 내용
- 국내·외 시설현황 조사, 부품별 시험자료 확보 및 사양연구
- CMOS로 설계되어 SEL 평가가 필요한 PWM-IC, OP-AMP.와 SEGR(Single Event Gate Rupture) 평가가 필요한 MOSFET 검증회로 설계
- PWM-IC, OP-AM

구분
1차년도(2009)
연구개발목표
- SEL 시험 시설현황 조사관련자료 확보 및 분석
- 부품별 SEL(SEGR 포함)검증기술 개발
- 전자부품에 대한 SEL 시험체계 구축
- 부품별 SEL 영향 평가
연구개발 내용
- 국내·외 시설현황 조사, 부품별 시험자료 확보 및 사양연구
- CMOS로 설계되어 SEL 평가가 필요한 PWM-IC, OP-AMP.와 SEGR(Single Event Gate Rupture) 평가가 필요한 MOSFET 검증회로 설계
- PWM-IC, OP-AMP., MOSFET 시험방법 및 절차연구
- OP-AMP., MOSFET 시험실시와 PWM-IC 시험회로 설계
구분
2차년도(2010)
연구개발목표
- 검증 모듈에 대한 SEL 영향평가
- 검증 모듈에 대한 SEL 시험체계 구축
- 부품별 DB 구축
연구개발 내용
- PWM-IC, OP-AMP., MOSFET 등 주요부품 성능평가
- PWM-IC, OP-AMP., MOSFET 등 주요부품 시험방법 및 체계 구축
- 부품별 DB 구축
구분
3차년도(2011)
연구개발목표
- 최종 모듈 확보
- 최종 모듈에 대한 SEL 시험방법 및 체계 구축
- 최종 모듈에 대한 SEL 영향평가 및 DB 구축
연구개발 내용
- DC-DC converter 최종모듈 확보
- PWM-IC, OP-AMP., MOSFET, MOSFET Drivers IC를 보드레벨에서 DUT(Device Under Test) 성능평가방법 및 체계구축
- PWM-IC, OP-AMP., MOSFET, MOSFET Drivers IC를 보드레벨에서 DUT 성능평가 및 DB 구축여부
구분
최종평가(2011)
연구개발목표
- DC-DC converter용 부품 및 모듈 확보
- 부품별 SEL 영향평가 및 DB구축
- 최종 모듈에 대한 SEL 영향평가 및 DB 구축
연구개발 내용
- DC-DC converter용 부품 및 모듈 확보
- 부품별 SEL 시험평가 및 DB 구축
- 최종 모듈에 대한 SEL 시험평가 및 DB 구축

Abstract ▼

Year
1st Year(2009)
Research Scopes
- Analysis of facility status for SEL test in Korea and foreign countries
- Development of verification technology of SEL
and SEGR for each part
- Establishment of SEL test procedure
- SEL evaluation for each part
Research Contents
- Inv

Year
1st Year(2009)
Research Scopes
- Analysis of facility status for SEL test in Korea and foreign countries
- Development of verification technology of SEL
and SEGR for each part
- Establishment of SEL test procedure
- SEL evaluation for each part
Research Contents
- Investigation of facility status for SEL test in Korea and foreign countries
- Development of verification technology of SEL test for PWM
-IC, OP-Amp. designed in CMOS and SEGR (Single Event Gate Rupture) for MOSFET
- Study for test method and procedure on PWM-IC, OP-AMP., MOSFET
- Tested OP-AMP., MOSFET and design of testing circuit for PWM-IC
Year
2nd Year(2010)
Research Scopes
- SEL test evaluation of verification module
- Establishment of SEL test for verification module
- Construction of DB for each part
Research Contents
- Evalution of PWM-IC, OP-AMP., MOSFET for DC-DC converter
- Construction of test method and procedure for PWM-IC, OPAMP., MOSFET, MOSFET Driver
IC
- Construction of DB for each part
Year
3rd Year(2011)
Research Scopes
- Securement of final module
- Construction of SEL test method and procedure
- SEL evaluation of final module and construction of DB for each part Research Contents
- Securement of final module
- Construction of SEL test method and procedure at board level for DUT (Device Under Test)
- Evaluation of PWM-IC, OP-AMP., MOSFET, and MOSFET Drive IC of final module and construction of DB for each part

목차 Contents

• 표지 ... 1
• 제출문 ... 2
• 보고서 요약서 ... 3
• 요약문 ... 5
• SUMMARY ... 9
• CONTENTS ... 13
• 목차 ... 14
• 제 1 장 연구개발과제의 개요 ... 15
• 제 1 절 연구의 필요성 ... 15
• 제 2 절 연구 목적 및 범위 ... 16
• 제 2 장 국내외 기술개발 현황 ... 17
• 제 1 절 국내외 방사선 관련 산업 현황분석 ... 17
• 1. 국내의 경우 ... 18
• 2. 외국의 경우 ... 19
• 제 2 절 방사선 환경 분석 ... 21
• 제 3 절 DC-DC Converter의 동작원리 ... 23
• 제 4 절 DC-DC Converter용 부품별 시험 종류 ... 29
• 제 3 장 연구개발 수행 내용 및 결과 ... 31
• 제 1 절 방사선 시험절차 및 수행방법 ... 31
• 제 2 절 전기적 특성 및 특성평가 ... 32
• 1. MOSFET ... 32
• 2. PWM-IC ... 36
• 3. OP-Amp ... 39
• 4. MOSFET Drivers IC ... 42
• 5. 연구내용 및 결과(국내시설 이용) ... 46
• 제 3 절 SEE (Single Event Effects) ... 59
• 1. 연구내용 및 결과(국외시설 이용) ... 61
• 제 4 절 결론 ... 69
• 제 4 장 목표달성도 및 관련분야에의 기여도 ... 70
• (1) 연구개발의 최종목표 ... 70
• (2) 연차별 연구개발 목표 및 내용 ... 71
• (3) 계획대비 달성도(선정시 제시된 연구목표) ... 71
• (4) 세부연구목표 및 가중치 ... 72
• 제 5 장 연구개발결과의 활용계획 ... 73
• 제 6 장 연구개발과정에서 수집한 해외과학기술정보 ... 74
• 제 7 장 참고문헌 ... 75