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NTIS 바로가기주관연구기관 | 한양대학교 HanYang University |
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보고서유형 | 1단계보고서 |
발행국가 | 대한민국 |
언어 | 한국어 |
발행년월 | 2014-06 |
과제시작연도 | 2013 |
주관부처 | 미래창조과학부 Ministry of Science, ICT and Future Planning |
등록번호 | TRKO201500004291 |
과제고유번호 | 1711000568 |
사업명 | 원자력연구기반확충사업 |
DB 구축일자 | 2015-05-30 |
키워드 | 내방사선.중성자.양성자.미세 공정.소프트 오류.고 신뢰성.Radiation Hardened.Neutron.Proton.Sub-technology.Soft-Error.High Reliability. |
DOI | https://doi.org/10.23000/TRKO201500004291 |
1. 방사선에 의한 고장 발생 예측모델 및 내 방사선 디자인 방법론 연구
(1) 로직으로 구성된 시스템에서 발생하는 고장 예측 모델 : 65nm 이하 미세공정을 고려함
(2) 로직 및 내장 메모리 소자에 의한 내방사선 설계기법 개발
(3) 방사선에 의한 시스템 고장 derating factor 계산방법 제시
2. 65nm 이하 제작공정의 고속 디자인 요소를 위한 내방사선 특성 분석
(1) 고장 예측모델 및 내방사선 시스템 설계 방법론을 확장하여 65nm 이하 미세공정을 사용한 고신뢰성 및 고성능 소
Ⅳ. Result
1. Collection and analysis of radiation-caused failure in the latest memory devices
- Utilized in development of both the test system and analysis tool
- Collection of fundamental data for development of radiation-hardened system
2. Development of a test system for radiatio
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