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NTIS 바로가기주관연구기관 | (주)메디오션 |
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보고서유형 | 최종보고서 |
발행국가 | 대한민국 |
언어 | 한국어 |
발행년월 | 2012-12 |
과제시작연도 | 2011 |
주관부처 | 중소기업청 Small and Medium Business Administration |
등록번호 | TRKO201500017795 |
과제고유번호 | 1425070720 |
사업명 | 창업성장기술개발사업 |
DB 구축일자 | 2015-11-10 |
키워드 | 스마트폰.협피치 고밀도 반도체.반도체 회로검사.멀티 DUT.프로브 니들.PNA 모듈.PNA 플레이트.초정밀 가공.고속 비전 측정. |
□ 개발목표
계획
스마트폰 반도체 회로검사용PNA 모듈 개발
실 적
검사모듈 개발 및 수요기업 납품 완료(매출 발생)
□ 정량적 목표 항목 및 달성도
1. 검사 피치(㎛) : 계획(30), 실적(30.1(공인검사서, 표 3.2))
2. PN홀 직경(㎛) : 계획(40), 실적(39.2(공인검사서, 표 3.2))
3. PN 홀 형상 균일도(%) : 계획(±2), 실적(±1.1(공인검사서, 표 3.2))
4. PN홀 위치 정밀도(㎛) : 계획(±2), 실적(±2 이내(공인검사서,
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