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NTIS 바로가기주관연구기관 | 엑시콘 산학공동연구법인 |
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연구책임자 | 윤종윤 |
참여연구자 | 박상준 , 권오영 |
보고서유형 | 최종보고서 |
발행국가 | 대한민국 |
언어 | 한국어 |
발행년월 | 2019-10 |
과제시작연도 | 2019 |
주관부처 | 과학기술정보통신부 Ministry of Science and ICT |
등록번호 | TRKO202000008047 |
과제고유번호 | 1711102344 |
사업명 | 국제과학비즈니스벨트조성(R&D) |
DB 구축일자 | 2020-07-29 |
키워드 | 반도체.검사장비.후공정.스토리지.챔버.SSD.Tester.Protocol.SMART.ATE. |
□ 연구의 목적 및 내용
Industry 4.0에 요구되는 차세대 고속,고용량 반도체 검사가 가능한 확장형 SMART 테스터 개발.
※ 세부 개발 목표
ㆍIndustry 4.0 SMART 반도체 Tester System 개발
- SMART Tester 기술개발
- 차세대 반도체 Protocol 초고속 신호처리 제어기술 개발
- 확장형 Open SW Platform 개발
ㆍAutomotive Device급 온도제어 기술 개발
□ 연구개발성과
[Solution 개발] - 1차년도<
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