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NTIS 바로가기주관연구기관 | 탑엔지니어링(주) Top Engineering. Co., Ltd |
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연구책임자 | 서용규 |
보고서유형 | 최종보고서 |
발행국가 | 대한민국 |
언어 | 한국어 |
발행년월 | 2016-06 |
과제시작연도 | 2015 |
주관부처 | 산업통상자원부 Ministry of Trade, Industry and Energy |
등록번호 | TRKO201800039626 |
과제고유번호 | 1711026053 |
사업명 | 전자정보디바이스산업원천기술개발 |
DB 구축일자 | 2018-11-03 |
키워드 | 아모레드.모듈레이터.어레이 테스터.프로빙 유닛.비접촉 부상장치.에어갭. |
핵심기술
- 구동회로 및 화소회로 불량 검출률, 탄성접속 반복 접속 저항 변화율, AIR GAP
최종목표
1. TFT Array 검사 스테이지 및 운용제어시스템 개발
2. Glass와 센서간의 비접촉 검사장치 기술개발
3. AMOLED용 전류구동방식 TFT 어레이 검사 기술 개발
- 전류구동방식 구동용 집적회로 전기 인가용 Probing 시스템 개발
- 고해상도(250ppi이상) 검사 및 처리시스템 개발
- 배선 Open, Short 검출 기술개발
4. 화소회로 검출력 향상을
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