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NTIS 바로가기주관연구기관 | 지앨에스 |
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연구책임자 | 은기찬 |
참여연구자 | 이문식 |
보고서유형 | 최종보고서 |
발행국가 | 대한민국 |
언어 | 한국어 |
발행년월 | 2019-07 |
과제시작연도 | 2018 |
주관부처 | 과학기술정보통신부 Ministry of Science and ICT |
과제관리전문기관 | 정보통신기획평가원 Institute of Information&Communications Technology Planning&Evaluation |
등록번호 | TRKO202100006879 |
과제고유번호 | 1711075765 |
사업명 | ICT유망기술개발지원(R&D) |
DB 구축일자 | 2021-07-17 |
키워드 | 60 기가헤르츠.초고속.근접무선통신.시험보드.자동 시험 시스템.60 GHz.High-Speed.Proximity Wireless Communication.Testbed.Automatic Test System. |
최종목표
o 초고속 근접통신(Zing) 칩 양산을 위한 자동 시험 시스템 개발
- Zing 칩 자동 시험 시스템용 소프트웨어 플랫폼 개발
- Zing 칩 자동 시험 시스템용 하드웨어 플랫폼 개발
- Zing 칩 자동 시험 시스템 검증 시험
o End Product
- Zing 칩 자동 시험 시스템용 소프트웨어 (SW)
- Zing 칩 자동 시험 시스템용 하드웨어 플랫폼 (HW)
개발내용 및 결과
o 개발기술 및 제품소개
· 초고속 근접통신(Zing) 칩 양산을 위한 자동
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