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NTIS 바로가기주관연구기관 | 홍익대학교 Hongik University |
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연구책임자 | 송봉근 |
보고서유형 | 최종보고서 |
발행국가 | 대한민국 |
언어 | 한국어 |
발행년월 | 2022-03 |
과제시작연도 | 2020 |
주관부처 | 과학기술정보통신부 Ministry of Science and ICT |
등록번호 | TRKO202200014797 |
과제고유번호 | 1711145992 |
사업명 | 개인기초연구(과기정통부)(R&D) |
DB 구축일자 | 2022-11-09 |
키워드 | 원자층증착.박막증착.표면화학.in situ 분석.밀도범함수이론.atomic layer deposition.thin film deposition.surface chemistry.in situ analysis.density functional theory. |
□ 연구개요
본 연구에서는 표면흡착으로 균일한 고품질의 박막을 증착하는 방법인 원자 층증착(atomic layer deposition, ALD) 공정의 반응 메커니즘을 근본적인 측면에서 밝히고자 하였다. 특히 ALD 공정 및 소재 중 가장 보편적으로 보급되어 있는 Al2O3의 증착에 대하여 반응중인 상태의 (in situ) 분석실험과, 양자화학적 전산모사, 박막증착 공정 및 증착후의 ex situ 분석을 적용하여 ALD 표면화학의 종합적인 해석에 대한 연구방법을 확립하고자 하였다. Al2O3 ALD의 표준 반응인 TMA+H2O
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