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in situ 표면화학 분석을 통한 2차원 기판상 산화물 원자층증착의 개선
Improvement of oxide atomic layer deposition on two-dimensional substrate through in situ surface chemistry analysis 원문보기

보고서 정보
주관연구기관 홍익대학교
Hongik University
연구책임자 송봉근
보고서유형최종보고서
발행국가대한민국
언어 한국어
발행년월2022-03
과제시작연도 2020
주관부처 과학기술정보통신부
Ministry of Science and ICT
등록번호 TRKO202200014797
과제고유번호 1711145992
사업명 개인기초연구(과기정통부)(R&D)
DB 구축일자 2022-11-09
키워드 원자층증착.박막증착.표면화학.in situ 분석.밀도범함수이론.atomic layer deposition.thin film deposition.surface chemistry.in situ analysis.density functional theory.

초록

□ 연구개요
본 연구에서는 표면흡착으로 균일한 고품질의 박막을 증착하는 방법인 원자 층증착(atomic layer deposition, ALD) 공정의 반응 메커니즘을 근본적인 측면에서 밝히고자 하였다. 특히 ALD 공정 및 소재 중 가장 보편적으로 보급되어 있는 Al2O3의 증착에 대하여 반응중인 상태의 (in situ) 분석실험과, 양자화학적 전산모사, 박막증착 공정 및 증착후의 ex situ 분석을 적용하여 ALD 표면화학의 종합적인 해석에 대한 연구방법을 확립하고자 하였다. Al2O3 ALD의 표준 반응인 TMA+H2O

참고문헌 (25)

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