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연합인증

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메모리-연산 통합이 가능한 다진법 인공지능 반도체 공정 및 신소자 개발
Research on process and new devices of multi-valued neuromorphic semiconductors capable of integrating memory and computation 원문보기

보고서 정보
주관연구기관 한국전자통신연구원
Electronics and Telecommunications Research Institute
연구책임자 임정욱
보고서유형최종보고서
발행국가대한민국
언어 한국어
발행년월2022-05
주관부처 과학기술정보통신부
Ministry of Science and ICT
등록번호 TRKO202200017556
DB 구축일자 2022-11-29
키워드 다진법 소자.시냅스 소자.CMOS 호환성.계면 딥 트랩.인간 기억 모사.Multi-valued devices.synapse devices.CMOS compatability.Interface deep trap.Human memory emulation.

초록

□ 연구개발 목표 및 내용
○ 연구목표
❍ 3진법 상태 구현과 CMOS 호환 공정 확보
- 3진법의 3개 상태 구현
- CMOS 호환 공정 확보 및 안정성, 내구성 확보
❍ deep trap을 활용한 시냅스 소자 제조 및 최적화
- CMOS 호환 공정 확보 및 장기 보존성 확보
- 64개 이상의 state 확보 및 학습 선형 지수 0.8 이상 확보

○ 연구내용
❍ 3진법 상태 구현과 CMOS 호환 공정 확보
- 산화물 기반의 반도체 및 절연막 제조 공정 확보
- 3단

목차 Contents

  • 표지 ... 1
  • 요 약 문 ... 2
  • 목차 ... 3
  • 1. 연구개발과제의 개요 ... 4
  • 1) 연구개발과제의 필요성 ... 4
  • 2) 연구개발과제의 중요성 ... 4
  • 2. 연구개발과제의 수행 과정 및 수행 내용 ... 5
  • 1) 연구개발과제의 목표 ... 5
  • 2) 연구개발과제의 내용 ... 5
  • 3) Weak Signal 탐색 영역의 정의 ... 6
  • 4) Weak Signal 탐색 결과 ... 7
  • 3. 연구개발과제의 수행 결과 ... 9
  • 1) 연구수행 결과 ... 9
  • 2) 연구개발비 사용실적 ... 15
  • 3) 성과활용 및 기대효과 ... 17
  • 4. 후속 연구개발과제 제안 ... 18
  • 별첨1. 아이디어톤 자문 의견 반영 현황 ... 24
  • 별첨2. 참고 문헌 ... 25
  • 끝페이지 ... 25

표/그림 (17)

참고문헌 (25)

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