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NTIS 바로가기주관연구기관 | 광운대학교 Kwangwoon University |
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연구책임자 | 구상모 |
보고서유형 | 최종보고서 |
발행국가 | 대한민국 |
언어 | 한국어 |
발행년월 | 2024-03 |
과제시작연도 | 2023 |
주관부처 | 과학기술정보통신부 Ministry of Science and ICT |
연구관리전문기관 | 한국연구재단 National Research Foundation of Korea |
등록번호 | TRKO202400009024 |
과제고유번호 | 1711185781 |
사업명 | 개인기초연구(과기정통부) |
DB 구축일자 | 2024-09-24 |
키워드 | 고에너지갭 반도체.이종접합 다이오드.산화갈륨.깊은준위결함.심층 과도 분광법.Wide bandgap semiconductor.Heterojunction diode.Ga2O3.Deep level trap.Deep level transient spectroscopy. |
□ 연구개요
미래자동차, 시스템 반도체, 바이오헬스 등에 공통적으로 적용 및 개발되는 핵심 소재로서 Ga2O3 및 SiC와 같은 고에너지갭 (WBG; Wide Bandgap) 반도체에 대한 관심도가 급증하고 있음. 특히, Ga2O3는 다른 고에너지갭 소재에 비하여 더욱 넓은 에너지밴드갭 (4.5~4.9 eV)등 우수한 특성으로 소자 성능에서 더욱 유리할 것으로 기대됨. 하지만 타 WBG소재 대비 단결정 성장과 에피택시 층에 비해 여전히 높은 결함농도
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