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산화물 CMP에서의 종말점 검출시스템에 대한 연구
Study on End Point Detector System in Oxide CMP 원문보기


김영식 (한양대학교 공학대학원 전자공학 국내석사)

초록
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본 논문은 산화물 CMP 공정에서의 종말점 검출 시스템에 대한 국내외 주요기업들의 기술수준을 검토하고 향후 나아갈 방향을 제시함에 그 목적이 있다. CMP 공정에서의 종말점 검출기술은 다양하게 발전하여 왔으며, 산업현장에서 많이 사용되는 방법으로는 토크검출법, 정전용량법, 광학적방법등을 들 수 있다. 그러나 높은 정밀도를 포함하는 그 기술적인 우수성으로 인하여 삼성전자를 포함한 국내외 대부분의 주요기업들은 광학적 방법을 사용하고 있다. 다만, 개개의 기업들은 정밀도를 더욱 향상시키는 방향으로 자신들만의 기술을 발전시켰다. 예를들어, 삼성전자의 경우에는 2개이상의 종말점 검출 시스템을 채용하거나 종말점 검출 시스템의 작동 횟수를 증가시키는 방법으로 그 정밀도를 향상시켰다. 향후의 산화물 ...

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

This paper has the purpose to review the technique level of major companies on CMP End Point Detection system and to present the direction to advance from now on. The CMP End Point Detection system has developed variously and among them, Motor Current EPD, Optical EPD and Electrostatic capacityEPD a...

주제어

#전자공학 

학위논문 정보

저자 김영식
학위수여기관 한양대학교 공학대학원
학위구분 국내석사
학과 전자공학
발행연도 2009
총페이지 v, 34 p.
키워드 전자공학
언어 kor
원문 URL http://www.riss.kr/link?id=T11552799&outLink=K
정보원 한국교육학술정보원

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