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NTIS 바로가기국내외 시장에 판매하기 위한 모든 전기, 전자 제품은 각 국에서 표준으로 규제하고 있는 EMI(Electromagnetic Interference) 요구사항을 만족하여야 한다. 제품의 EMI를 측정하기 위한 시험은 크게 전도성 방출 시험(Conducted emissions)과 복사성 방출 시험(Radiated emissions)으로 나뉜다. 전도성 방출 시험은 주파수 150 kHz ~ 30 MHz 대역에서 제품의 전원선을 타고 나오는 노이즈를 규제하며, 복사성 방출 시험은 주파수 30 MHz ~ 1000 MHz 대역에서 제품에서 대기 중으로 방사되는 노이즈를 규제한다. 시험방법의 특성상 전도성 방출 시험은 전원임피던스 안정화 회로망(LISN)을 사용하여 측정하므로 공간의 제약을 크게 받지 않는 반면에 복사성 방출 시험은 제품으로 부터의 규정된 측정거리에서 EMI 안테나를 사용하여 측정하므로 넓은 공간을 필요로 하고, 벽면에 반사되어 측정값이 중첩되는 것을 막기 위하여 벽면에 ...
저자 | 윤상욱 |
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학위수여기관 | 한양대학교 공학대학원 |
학위구분 | 국내석사 |
학과 | 전자공학과 전공 |
지도교수 | 곽계달 |
발행연도 | 2009 |
총페이지 | v, 80 p. |
키워드 | 전자공학 |
언어 | kor |
원문 URL | http://www.riss.kr/link?id=T11798041&outLink=K |
정보원 | 한국교육학술정보원 |
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