최소 단어 이상 선택하여야 합니다.
최대 10 단어까지만 선택 가능합니다.
다음과 같은 기능을 한번의 로그인으로 사용 할 수 있습니다.
NTIS 바로가기본 연구에서는, 표면미세형상측정기의 측정프로브에 의해 데이터왜곡현상이 발생함에 따른 측정결과의 신뢰성 저하를 막고자, 측정모사실험과 실측정결과의 비교 분석을 통한 측정프로파일데이터의 왜곡현상이 분석되었으며, 이를 기반으로 하는 측정 조건이 제안되었다. 모사실험을 위한 기초데이터는 원자현미경(AFM)을 이용하여 실제의 기계가공면으로부터 얻어졌으며, 미세 형상 측정기의 대표적인 형태인 촉침식과 광학식 측정기 ...
저자 | 이동혁 |
---|---|
학위수여기관 | 한양대학교 대학원 |
학위구분 | 국내석사 |
학과 | 기계설계·메카트로닉스공학과 |
발행연도 | 2011 |
총페이지 | viii, 50 p. |
키워드 | 기계공학 |
언어 | kor |
원문 URL | http://www.riss.kr/link?id=T12334668&outLink=K |
정보원 | 한국교육학술정보원 |
*원문 PDF 파일 및 링크정보가 존재하지 않을 경우 KISTI DDS 시스템에서 제공하는 원문복사서비스를 사용할 수 있습니다.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.