최소 단어 이상 선택하여야 합니다.
최대 10 단어까지만 선택 가능합니다.
다음과 같은 기능을 한번의 로그인으로 사용 할 수 있습니다.
NTIS 바로가기FPD(Flat Panel Display) 및 반도체 제조공정에 다양하게 사용하는 정전기 제거장치 성능평가에서 표준시험 방법은 설치 위치를 고정하여 측정하였다. 그러나 제조 공정이 다양하여 설치위치 변경에 따른 측정 값 활용에 대한 문제점이 야기되었다. 본 연구에서는 다양한 제조 공정에 적용할 수 있는 정전기 제거장치 성능평가 방법을 개발하기 위하여 청정부스 제작, 이오나이저 이송장치 개발, 측정 소프트웨어 개발, 측정 데이터 정규성 검증, 측정 데이터 활용법 제시를 목적으로 연구를 진행하였다. 표준에서 제시한 측정 높이 450 ㎜에서 이오나이저 성능을 평가했을 때 측정 데이터 회귀직선식을 적용할 수 없었지만, 표준시험 방법 이외에 측정 높이 600, 750, 900, 1 050 ㎜를 추가로 측정하여 회귀직선식을 적용할 수 있었다. 이 통계적 ...
저자 | 전지훈 |
---|---|
학위수여기관 | 한양대학교 산업경영디자인대학원 |
학위구분 | 국내석사 |
학과 | 산업경영공학전공 |
지도교수 | 안선응 |
발행연도 | 2011 |
총페이지 | v, 60 p. |
키워드 | 생산관리 |
언어 | kor |
원문 URL | http://www.riss.kr/link?id=T12507991&outLink=K |
정보원 | 한국교육학술정보원 |
*원문 PDF 파일 및 링크정보가 존재하지 않을 경우 KISTI DDS 시스템에서 제공하는 원문복사서비스를 사용할 수 있습니다.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.