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NTIS 바로가기電子工學會誌 = Journal of the Korean Institute of Electronics Engineers, v.22 no.5, 1985년, pp.50 - 56
고요환 (한국과학기술원 전기 및 전자공학과) , 김충기 (한국과학기술원 전기 및 전자공학과) , 경종민 (한국과학기술원 전기 및 전자공학과)
A common failure mechanism in bulk CMOS integrated circuits is the latch-up of parasitic SCR structure inherent in the bulk CMOS structure. Latch-up triggering and holding charac-teristics have been measured in the test devicrs which include conventional and Schottky-damped CMOS structures with vari...
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