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NTIS 바로가기大韓機械學會論文集. Transactions of the Korean Society of Mechanical Engineers. A. A, v.22 no.4 = no.151, 1998년, pp.868 - 878
심종엽 (한국과학기술원 기계공학과) , 권대갑 (한국과학기술원 기계공학과)
There are recently increasing needs for precision XYZ-stage in the fields of nanotechnology, specially in AFMs(Atomic Force Microscope) and STMs(Scanning Tunneling Microscope). Force measurements are made in the AFM by monitoring the deflection of a flexible element (usually a cantilever) in respons...
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