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NTIS 바로가기한국결정성장학회지 = Journal of the Korean crystal growth and crystal technology, v.8 no.3, 1998년, pp.411 - 418
The thickness dependence of stress electric filed oxide currents has been measured in oxides with thicknesses between 10 nm and 80 nm. The oxide currents were shown to be composed of stress current and transient current. The stress current was composed of stress induced leakage current and dc curren...
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