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NTIS 바로가기한국정밀공학회지 = Journal of the Korean Society for Precision Engineering, v.17 no.3 = no.108, 2000년, pp.184 - 191
김형재 (부산대학교 대학원 정밀기계공학과) , 김호윤 (부산대학교 대학원 정밀기계공학) , 정해도 (부산대학교 기계공학부)
Properties of pad are investigated to find the relationship between the chemical mechanical polishing(CMP) results, such as material removal rate and within wafer non-uniformity(WIWNU), and its properties. Polishing pressure is considered as important factors to affect the results, so behavior of or...
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