[논문]동적 전원 공급 전류를 이용한 효율적인 SRAM 테스트 기법

윤도현; 김홍식; 강성호

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동적 전원 공급 전류를 이용한 효율적인 SRAM 테스트 기법
An Efficient SRAM Testing using Dynamic Power Supply Current 원문보기

電子工學會論文誌. Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea. SD, 반도체, v.37 no.12, 2000년, pp.50 - 59

윤도현 (LG電子) , 김홍식 (延世大學校電氣電子工學科) , 강성호 (延世大學校電氣電子工學科)

초록
AI-Helper

본 논문에서는 고집적 SRAM의 다양한 고장을 검출하기 위하여 동적 전원 공급 전류를 관찰하는 방법을 이용하였다. 다양한 고장을 가정하여 고장이 없는 경우와 고장이 발생한 경우 transition write시의 Iddt 펄스의 크기가 크게 다른 것을 이용하여 쓰기 동작만으로 구성된 메모리 테스트 알고리듬을 개발하였다. 새로운 알고리듬은 기존의 March B 알고리듬에 비해서 7/17의 짧은 길이를 가지고도 더 많은 잠재적인 고장을 검출할 수 있다.

Abstract ▼ AI-Helper

This paper presents a new SRAM testing method for various faults by monitoring dynamic power supply currents. The peak value of Iddt pulses when the transition write operation is performed, is prominently different from that of a fault free case. Using the observation, a new memory test algorithm is developed which consists of only write operations. The new test algorithm using dynamic power supply current testing, has length of 7n, where n is the number of cells in SRAMs. Compared to the previous March B algorithm, the test length has been reduced by 7/17, and can detect additional hard-to-detect faults.

참고문헌 (7)

A.J. Goor, Testing Semiconductor Memories: Theory and Practice, John Wiley & Sons, Singapore, 1996
A. J Goor, 'Using March Tests to Test SRAMs,' IEEE Design & Test of Computers, pp. 8-14, March 1993

상세보기
J. M. Soden, C. F. Hawkins, R. K. Gulati, and W. Mao, 'Iddq Testing: A Review,' Journal of Electrical Testing: Theory and Applications, pp. 291-203, 1992

상세보기
S. Su, and R. Z. Makki, 'Testing of Static Random Access Memories by Monitoring Dynamic Power Supply Current,' Journal of Electronic Testing: Theory and Applications, pp. 265-278, 1992

상세보기
A. Meixner, J. Banik, 'Weak Write Test Mode: An SRAM Cell Stability Design for Test Technique,' Proc. of International Test Conference, pp. 309-318, 1996
V. H. Champac, J. Castillejos, and J. Figueras, 'Iddq Testing of Opens in CMOS SRAMs,' Proc. of VLSI Test Symposium, pp. 26-30, April 1998
J. Liu, R. Z. Makki, A. Kayssi, 'Dynamic Power Supply Testing of CMOS SRAMs', Asian Test Symposium, pp. 348-353, 1998

저자의 다른 논문 :

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