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NTIS 바로가기한국산업안전학회지, v.16 no.2, 2001년, pp.57 - 62
김두현 (충북대학교 안전공학과) , 김상렬 (안동과학대학 산업보건과)
In order to analyze the mechanism of semiconductor device damages by ESD, this paper adopts a new charged-device model(CDM), field-induced charged nudel(FCDM), simulator that is suitable for rapid routine testing of semiconductor devices and provides a fast and inexpensive test that faithfully repre...
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