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NTIS 바로가기韓國眞空學會誌 = Journal of the Korean Vacuum Society, v.11 no.4, 2002년, pp.218 - 224
김경중 (한국표준과학연구원 나노표면그룹) , 김현경 (한국표준과학연구원 나노표면그룹) , 문대원 (한국표준과학연구원 나노표면그룹) , 홍태은 (하이닉스반도체 분석개발팀) , 정칠성 (하이닉스반도체 분석개발팀) , 김이경 (케이맥 분석자원부) , 김재남 (포항산업과학연구원 재료물성분석팀) , 임철호 (동부전자주식회사 품질관리팀) , 김정호 (LG전자기술원 물성연구실)
A domestic round robin test(RRT) for the quantitative analysis of minor impurities was performed by a standard procedure and standard reference material. The certified reference material(CRM)s for B-doped Si thin film and analysis specimens and the analysis specimens were prepared by an ion beam spu...
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