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EUVL 응용을 위한 Mo/Si 박막 특성 전산모사
Computer Simulation of Mo/Si Thin Film Characteristics for EUVL Technology 원문보기

한국세라믹학회지 = Journal of the Korean Ceramic Society, v.39 no.8 = no.243, 2002년, pp.807 - 811  

이영태 (한양대학교 세라믹공학과) ,  정용재 (한양대학교 세라믹공학과)

초록
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본 연구에서는 EUVL(Extreme Ultra-Violet Lithography) 공정에서 사용되어지는 Mo/Si 다층박막 마스크 물질의 최적화된 제조공정을 도모하기 위해 Monte Carlo법을 적용한 PVD 공정 시뮬레이터를 사용하여 Mo/Si 다층박막 증착변수에 따른 박막의 형상변화를 분석하였다. 박막의 형상은 가스압력(1∼30 mTorr), 타겟과 기판과의 거리 (1∼30 cm) 및 확산거리(1∼10 nm)에 따라 크게 변함을 알 수 있었으며 가스압력이 낮을수록, 기판과 타겟과의 거리가 멀어질수록 균일한 표면의 박막 형성이 가능할 것으로 예측되었다.

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

In this work, we investigated the deposition behavior of Mo/Si multilayer thin film structures simulated by a PVD process simulator based on Monte Carlo method to assist the optimized fabrication of the high quality mask in EUVL(Extreme Ultra-Violet Lithography) process. The shape of simulated thin ...

주제어

참고문헌 (10)

  1. C. W. Gwyn, R. Stullen, D. Sweeney and D. Attwood, 'Extreme Ultraviolet Lithography,' J. Vac. Sci. Technol. B, 16 [61 3142-49 (1998) 

  2. R. H. Stulen and D. W. Sweeney, 'Extreme Ultraviolet Lithography,' IEEE J. Quantum Electron., 35 [5] 694-99 (1999) 

  3. B. S. Bollepalli, M. Khan and F. Cerrina, 'Imaging Prop-erties of the Extreme Ultraviolet Mask,' J. Vac. Sci. Technol. B, 16 [6] 3444-48 (1998) 

  4. M. Singh and J. J. M. Braat, 'Design of Multilayer Extreme -Ultraviolet Mirrors or Enhanced Reflectivity,' App. Opt., 39 [13] 2189-97 (2000) 

  5. D. E. Kim, D. H. Cha and S. W. Lee, 'Optimized Structures of Multilayer Soft X-ray Reflectors in the Spectral Range of 30 to 300 $\AA$ ,' Jpn. J. Appl. Phys., 37 [5] 2728-33 (1998) 

  6. S. K. Dew, T. Smy and M. J. Brett, 'Simulation of Elevated Temperature Aluminum Metallization Using SIMBAD,' IEEE Trans. on Electron. Dev., 39 [7]1599-606 (1992) 

  7. A. T. Voutsas and M. K. Hatalis, 'Structure of As-deposited LPCVD Silicon Films as Low Deposition Temperatures and Pressures,' J. Electrochem. Soc., 139 [9] 2659-65 (1992) 

  8. R. K. Waits, 'Planar Magnetron Sputtering,' J. Vac. Soc. Technol., 15 [2] 179-86 (1978) 

  9. M. Ohring, The Materials Science of Thin Films; Vol. 1, pp. 79-145, Academic Press, New York. 1992 

  10. Y. J. Lee and S. Baik, 'Effects of Deposition Parameters on MgO Thin Films on Si(lOO) Substrates by Reactive RF Magnetron Sputtering,' J. Kor. Ceram. Soc., 31 [6] 643-50 (1994) 

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