최소 단어 이상 선택하여야 합니다.
최대 10 단어까지만 선택 가능합니다.
다음과 같은 기능을 한번의 로그인으로 사용 할 수 있습니다.
NTIS 바로가기한국소음진동공학회논문집 = Transactions of the Korean society for noise and vibration engineering, v.14 no.6, 2004년, pp.495 - 502
박준기 (금오공과대학교 대학원 기전공학과) , 권현규 (금오공과대학교 기계공학) , 홍성욱 (금오공과대학교 기계공학부)
This paper presents the vibration analysis and the performance evaluation of cantilevers with probing tips for non-contact scanning probe microscopy. One of the current issues of the scanning probe microscopy technology is to increase the measurement speed, which is closely tied with the dynamic cha...
Sarid, D., 1991, Scanning Force Microscopy: with applicarions to electric, Magnetic, and Atomic forces, New York Oxford University Press.
2000, User's Guide to Autoprobe M5, TM Microscopes
Chang, W. S., Shin, B. S. and Whang, K. H., 2003, "Nanoprobe Application Technologies," Journal of the Korean Society of Precision Engineering, Vol. 20, No. 3, pp. 5-14.
Park, S., Hong, I. J. and Nho, Y., 2003, "Scanning probe microscopy," http://www.psia.co.kr.
Binning, G. and Quate, C. F., 1986, "Atomic Force Microscope," Phys. Rev. Lett., Vol. 56(9), pp. 930-933.
Lee, D., Ono, W. T. and Esashi, M., 2000, "Cantilever with Integrated Resonator for Application of Scanning Probe Microscope," Sensors and Actuators A: Physical, Vol. 83, pp. 11-16.
Hazel, J. L. and Tsukruk, V. V., 1999, "Spring Constants of Composite Ceramic/gold Cantilevers for Scanning Probe Microscopy," Thin Solid Films Vol. 339, pp. 249-257.
Lee, M., McdDaniel, E. B. and J. W. P. Hsu, 1996, "An Impedance Based Non-contact Feedback Control System for Scanning Probe Microscopes," American Institute of Physics, Rev. Sci. Instrum. 67.
Cozzens, R., 2002, CATIA Version 5: Release 8 & 9, Schroff Development Co.
*원문 PDF 파일 및 링크정보가 존재하지 않을 경우 KISTI DDS 시스템에서 제공하는 원문복사서비스를 사용할 수 있습니다.
Free Access. 출판사/학술단체 등이 허락한 무료 공개 사이트를 통해 자유로운 이용이 가능한 논문
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.