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LCD표면 검사를 위한 라인스캔 영상의 재구성
Image Reconstruction Using Line-scan Image for LCD Surface Inspection 원문보기

電子工學會論文誌. Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea. SP, 신호처리, v.41 no.4 = no.298, 2004년, pp.69 - 74  

고민석 (경북대학교 전자공학과) ,  김우섭 (경북대학교 전자공학) ,  송영철 (경북대학교 전자공학) ,  최두현 (경북대학교 전자공학) ,  박길흠 (경북대학교 전자공학과)

초록
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본 논문에서는 프로젝션 프로파일(PP： Projection Profile) 과 컬러공간변환(CST： Color Space Transform)을 이용하여 라인스캔 카메라(Line-Scan Camera) 영상을 재구성함으로써 LCD 표면의 결함검출 성능을 높이는 알고리즘을 제안하였다. 제안된 알고리즘은 결함을 포함한 RGB 영역 분할, 대표값 추적시스템을 이용한 대표값 추출, 그리고 컬러공간변환을 이용한 Y영상 재구성 방법들로 구성되어 있다. 실험을 통하여 제안한 방법으로 재구성된 영상의 결함검출 성능이 영역카메라(Aerial Camera)의 결함검출 성능보다 우수함을 보였다.

Abstract ▼ AI-Helper 아이콘AI-Helper

In this paper, we propose a novel method for improving defect-detection performance based on reconstruction of line-scan camera images using both the projection profiles and color space transform. The proposed method consists of RGB region segmentation, representative value reconstruction using the ...

주제어

#LCD   #Inspection   #defect   #detection   #Reconstruction  

참고문헌 (7)

  1. 국중옥, '국내 외 공장자동화 산업의 일반동향'，한국정보처리학회, vol. 4, no, 4, pp. 4-17, 1997 

    원문보기 상세보기

  2. 김도현, 강동구, '눈금 블록과 분할정복 기법을 이용한 신발 밑창 자동 검사 시스템', 제어.자동화.시스템공학회논문지, vol. 8, no, 8, pp. 625-632, 2002. 8 

    원문보기 상세보기 crossref

  3. 장동식，이만희，부창완，'Line Scan Camera를 이용한 검사 시스템에서의 새로운 영상 처리 알고리즘', 제어.자동화.시스템공학회눈문지, vol. 3, no. 4, pp. 406-414, 1997. 8 

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  4. S. M. Sokolov and A. S. Treskunov, 'Automatic vision system for final test of liquid crystal displays', Proc. of 1992 IEEE Int. Conf. on Robo tics and Automation, vol. 2, pp. 1578-1582, 1992. May 

    crossref

  5. 전유혁, 김규태, 'LCD 결함검사 알고리즘에 관한 연구', 대한전자공학회 99 추계종합학술대회 논문집, pp, 637-640, 1999. 11 

  6. D. Chetverikov and A. Hanbury, 'Finding defects in texture using regularity and local orientation', Pattern Recognition, vol. 35, pp. 2165-2180, 2002 

    상세보기 crossref

  7. G. McGunnigle and M. J. Chantler. 'Resolving handwriting from background printing using photometric stereo', Pattern Recognition, vol, 36, pp. 1869-1879, 2003 

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