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NTIS 바로가기한국전자현미경학회지 = Korean journal of electron microscopy, v.34 no.1, 2004년, pp.51 - 59
배문섭 (한국표준과학연구원 물질량 표준연구부) , 오상호 (한국표준과학연구원 물질량 표준연구부) , 조양구 (한국표준과학연구원 물질량 표준연구부) , 이확주 (한국표준과학연구원 물질량 표준연구부)
The high acceleration voltage system used in scanning electron microscope were designed and manufactured to test its stability. The Cockcroft-Walton circuits are used both in the cathode voltage up to -30 kV and in the Wehnelt cylinder of -2 kV. The operating voltage of 6 V was applied to the heatin...
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Agrawal JP: Power electronic systems theory and design, Prentice Hall, pp. 471 484, 2001
Billings KH: Switchmode power supply handbook, 2nd ed., McGraw Hill, chapter 3, pp. 64 107, 1999
Goldstein Jl, Newbery DE, Echlin P, Joy DC, Romig, Jr. AD, Lyman CE, Fiori C, Lifshin E: Scanning electron microscopy and X ray analysis, Plenum Press, 2nd eds., pp . 21 67, 1992
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