$\require{mediawiki-texvc}$

연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

연합인증 절차는 다음과 같습니다.

최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용

그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용

연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.

Cosputtering법으로 증착한 ZnO박막의 Al도핑농도가 미세구조 및 물리적 특성에 끼치는 효과
Effects of Al Doping Concentration on the Microstructure and Physical Properties of ZnO Thin Films Deposited by Cosputtering 원문보기

한국재료학회지 = Korean journal of materials research, v.15 no.9, 2005년, pp.604 - 607  

임근빈 (인하대학교 신소재공학부) ,  이종무 (인하대학교 신소재공학부)

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

Dependence of the crystallinity, surface roughness, carrier concentration, carrier mobility, electrical resistivity and transmittance of Al-doped ZnO films deposited on glass substrates by RF-magnetron sputtering on effects of the ratio of the RF power for AlZnO to that for ZnO (R) have been investi...

주제어

AI 본문요약
AI-Helper 아이콘 AI-Helper

* AI 자동 식별 결과로 적합하지 않은 문장이 있을 수 있으니, 이용에 유의하시기 바랍니다.

문제 정의

  • 6)그러나 알루미늄 도핑으로 ZnO의 전기전도도는 쉽게 높일 수 있지만 높은 투과도가 필요한 평판디스플레이 패널의 투명전극으로 사용하기 위해서는 투과도를 개선하기 위한 더 많은 노력이 요청된다. 여기서는 RF 마그네트런 스퍼터링 법으로 AZO 박막을 증착함에 있어 투과도에 가장 많은 영향을 끼치는 것으로 생각되는 A1 농도를 RF 전력비에 변화 시켜 A1 농도의 최적조건을 결정하는 연구를 수행하였다. 즉, ZnO의 RF 전력에 대한 AlZnO의 RF 전력비 (R)가 AZO박막의 구조와 전기적, 광학적 성질에 끼치는 효과를 조사하였다.
본문요약 정보가 도움이 되었나요?

참고문헌 (12)

  1. H. L. Hartnagel, A. L. Dawar, A. K. Jain and C. Jagadish, Semiconducting Transparent Thin Films, Institute of Physics Publishing, Bristol and Philadelphia, PA(1995) 

  2. S. Mayer and K. L. Chopra, Sol, Ener. Mat., 17, 319 (1998) 

  3. H. A. Wanka, E. Lotter and M. B. Shubert, Mat. Res. Soc. Symp. Proc., 336, 657 (1994) 

  4. M. Hiramatsu, K. Imaeda, N. Horio and T. Goto, J. Vac. Sci. Technol. A, 16, 2, 669 (1998) 

  5. M. Chen, Z. L. Pei, C. Sun, J. Gong, R. F. Huang and L. S. Wen, Materials Science and Engineering B, 85, 2/3, 212 (2001) 

  6. J. Hu and R. G. Gordon, J. Appl, Phys. Lett., 71, 880 (1992) 

  7. X. Jiang, C. L. Jia and B. Szyszka, Appl. Phys. Lett., 80, 3090 (2002) 

  8. K. C. Park, D. Y. Ma and K. H. Kim, Thin Solid Films, 305, 201 (1997) 

  9. M. Chen, Z. L. Pei, X. Wang, C. Sun and L. S. Wen, J. Vac. Sci. Technol., A19, 963 (2001) 

  10. J. Mass, P. Bhattacharya and R. S. Katiyar, Mat. Sci. and Eng., 8103, 9 (2003) 

  11. T. Minami, H. Nanto and S. Takata, Jpn. J. Appl. Phys., 24, L605 (1985) 

  12. K. Tominage. M. Kataoka;T. Ueda. M. Chong. Y. Shintami and I. Mori, Thin Solid Film, 253, 9 (1994) 

저자의 다른 논문 :

관련 콘텐츠

오픈액세스(OA) 유형

BRONZE

출판사/학술단체 등이 한시적으로 특별한 프로모션 또는 일정기간 경과 후 접근을 허용하여, 출판사/학술단체 등의 사이트에서 이용 가능한 논문

이 논문과 함께 이용한 콘텐츠

저작권 관리 안내
섹션별 컨텐츠 바로가기

AI-Helper ※ AI-Helper는 오픈소스 모델을 사용합니다.

AI-Helper 아이콘
AI-Helper
안녕하세요, AI-Helper입니다. 좌측 "선택된 텍스트"에서 텍스트를 선택하여 요약, 번역, 용어설명을 실행하세요.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.

선택된 텍스트

맨위로