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NTIS 바로가기한국동력기계공학회지 = Journal of the korean society for power system engineering, v.9 no.1, 2005년, pp.64 - 69
이덕보 (한양대학교 신뢰성분석연구센터) , 김정현 (한양대학교 신뢰성분석연구센터) , 강수근 (한양대학교 신뢰성분석연구센터) , 장석원 (한양대학교 신뢰성분석연구센터) , 임재훈 (삼성전자 냉장고 CS Group) , 유동수 (삼성전자 냉장고 CS Group)
In evaluation of electronic reliability on the PCB(Print Circuit Borad),electrochemical migration is one of main test objects. The phenomenon of electrochemical migration occurs in the environment of the hight humidity and the hight temperature under bias through a continuous aqueous electrolyte. In...
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