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NTIS 바로가기한국시뮬레이션학회논문지 = Journal of the Korea Society for Simulation, v.14 no.1, 2005년, pp.1 - 8
한영신 (성결대학교 공과대학 멀티미디어학과) , 이칠기 (성균관대학교 정보통신공학부 컴퓨터공학과)
In the semiconductor manufacturing, yield enhancement is an urgent issue. It is ideal to prevent all the failures. However, when a failure occurs, it is important to quickly specify the cause stage and take countermeasure. Reviewing wafer level and composite lot level yield patterns has always been ...
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