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Metal CMP 용 컨디셔너 디스크 표면에 존재하는 다이아몬드의 형상이 미치는 패드 회복력 변화
The Pad Recovery as a function of Diamond Shape on Diamond Disk for Metal CMP 원문보기

마이크로전자 및 패키징 학회지 = Journal of the Microelectronics and Packaging Society, v.13 no.3 = no.40, 2006년, pp.47 - 51  

김규채 (한양대학교 재료화학공학부) ,  강영재 (한양대학교 재료화학공학부) ,  유영삼 (한양대학교 재료화학공학부) ,  박진구 (한양대학교 재료화학공학부) ,  원영만 (새솔다이아몬드) ,  오광호 (새솔다이아몬드)

초록
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디바이스의 고집적화로 인한 다층 배선구조로 인해 초점심도가 중요해짐에 따라 표면의 평탄도가 디바이스에 매우 큰 영향을 주게 되어, 표면의 평탄도를 결정지어주는 CMP(Chemical Mechanical Polishing) 공정이 매우 중요한 요소가 되었다. CMP 공정에는 슬러리, 연마패드, 컨디셔닝 디스크와 같은 소모품들이 사용된다. 이러한 소모품 중 하나인 컨디셔닝 디스크를 이용한 컨디셔닝 공정은 CMP 공정이 끝난 후 패드의 기공과 groove 내에 잔류 하는 화학반응물이나 슬러리와 같은 잔유물들을 컨디셔닝 디스크 표면에 부착되어 있는 다이아몬드를 이용하여 제거 함으로써 연마율을 높이고, 연마 패드의 수명을 증가 시켜주는 역할을 한다. 컨디셔닝 공정을 실시함으로써 연마 패드의 수명이 연장되기 때문에 경제적인 부분에서도 큰 이점을 가지게 된다. 본 연구에서는 이러한 CMP 공정에서 중요한 역할을 하는 소모품 중 하나인 컨디셔닝 디스크 표면에 존재하는 다이아몬드의 밀도, 형상 그리고 크기에 따라 연마 패드의 회복력 변화를 알아봄으로써 효율적인 컨디션닝 디스크의 특성을 평가해 보았다.

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

Recently, CMP (Chemical Mechanical Polishing) is one of very important processing in semiconductor technology because of large integration and application of design role. CMP is a planarization process of wafer surface using the chemical and mechanical reactions. One of the most important components...

주제어

AI 본문요약
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문제 정의

  • 이러한 패드 컨디셔너를 사용함으로써 증가한 연마패드의 수명은 CMP의 효율성 증대뿐만 아니라 경제적인 측면에서도 커다란 이점을 가진다. 따라서 본 연구는 연마 패드의 성능을 향상 시키기 위해 컨디셔닝 공정에 사용되는 다이아몬드의 밀도와 형태 그리고 크기의 차이의 변화에 따라서 CMP 공정 후의 연마 패드의 회복 능력, 연마패드와 컨디셔너 디스크의 실제 마찰력과 온도를 측정 하여 컨디셔닝 디스크상의 다이아몬드 조건에 따른 특성평가를 실시 하였다.
  • 본 연구에서는 CMP 공정에서 중요한 역 할을 하고 있는 연마 패드의 효율성과 경제성 향상을 위해 컨디셔닝 디스크에서 가장 중요한 요소인 디스크 표면에 존재하는 다이 아몬드의 형상과 밀도 그리고 크기의 변화에 따라 실험을 실시하고 특성을 평가해보았다. 컨디셔닝 디스크 표면의 다이아몬드가 날카롭고 조밀하지 않게 분포되 어 있는 경우 가장 높은 회복율을 얻어낼 수 있었으나 날카로운다이 아몬드는 과도한 절삭력으로 인하여 오히 려패드의 수명이 떨어질 수 있다는 것을 알게되었다.
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