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문제 정의
- 또, 이 두 유형의 홀로그램을 동일한 조건에서 기록 재생하여 비교하고 분석한 실험의 사례는 아직 없다. 따라서, 본 연구에서는 투과형 홀로그램과 반사형 홀로그램의 Bragg detuning 효과를 모두 설명할 수 있는 수학적 모형을 K-sphere를 통한 접근이 아닌 결합파이론(Coupled wave theory)을 수정 하는 방법으로 제안하고 이를 검증하고자 한다.
- 본 연구는 산업자원부가 주관하는 차세대 신기술 개발사업 중 전자부품연구원이 총괄 관리하는 “차세대 대용량 정보저장장치의 개발” 사업의 지원으로 대우일렉트로닉스에서 수행되었다. (00008145)
가설 설정
- 다음으로 기록 매질의 홀로그램 기록 후 수축현상이 Bragg detuning 과 어떤 관련이 있는지 알아보기 위하여 기록 매질에서 평균 굴절률 변화 없이 수축 현상만 일어났다고 가정하고 시뮬레이션하였다. 투과형 홀로그램의 경우 기록 조건은 V532nm.
- 02°의 + 각 방향으로의 Bragg detuning 현상이 일어났다. 동일한 기록 조건과 평균 굴절률 변화를 가정하고 반사형 홀로그램에 대해 위에서 얻은 nb 를 대입하여 보았다. 그러자, + 각 방향으로 약 0.
- 먼저, 홀로그램 기록 후 매질 내에서 평균 굴절률 변화만 발생했다고 가정하고 시뮬레이션 하여 그 영향력을 살펴보았다. 투과형 홀로그램의 경우 기록 조건은 A=532nm, 외부 입사각은 &=24.
- 투과형 홀로그램의 경우 기록 조건은 V532nm. 외부 입사각은 θref=24.8°, θsig=0°, 두께 d= 1mm 로 가정하였으며, 반사형 홀로그램의 경우는 신호광의 입사각만 θsig=180°로 하여 시뮬레이션 하였다. 먼저, 기록 매질에 홀로그램 기록 후 수축이 있을 때와 수축이 없을 때를 비교하였고, 수축의 정도를 달리하며 그 결과를 비교하는 시뮬레이션을 하였다.
- 영향력을 살펴보았다. 투과형 홀로그램의 경우 기록 조건은 A=532nm, 외부 입사각은 &=24.8°, esig=0°, 두께 d= 1mm로 가정하였으며, 반사형 홀로그램의 경우는 신호 광의 외부 입사각을 0sig=180°로 하여 시뮬레이션하였다 평균 굴절률의 변화가 없을 때(nb=0)부터 평균 굴절률을 변화시키면서(%#)) 시뮬레이션 한 결과를 각 홀로그램 유형별로 그림 7 에 나타냈다. 시뮬레이션 결과에서 보여지듯이 투과형 홀로그램과 반사형 홀로그램에서 Bragg detuning 현상이 나타났다.
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