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비휘발성 상변화메모리소자에 응용을 위한 칼코게나이드 $Ge_1Se_1Te_2$ 박막의 특성
The Characteristics of Chalcogenide $Ge_1Se_1Te_2$ Thin Film for Nonvolatile Phase Change Memory Device 원문보기

전기학회논문지. The transactions of the Korean Institute of Electrical Engineers. C/ C, 전기물성·응용부문, v.55 no.6, 2006년, pp.297 - 301  

이재민 (광운대 전자재료공학과) ,  정홍배 (광운대 전자재료공학과)

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

In the present work, we investigate the characteristics of new composition material, chalcogenide $Ge_1Se_1Te_2$ material in order to overcome the problems of conventional PRAM devices. The Tc of $Ge_1Se_1Te_2$ bulk was measured $231.503^{\circ}C$ with DSC analysis. ...

주제어

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문제 정의

  • 본 논문에서는 현재 상변화 메모리 소자 재료로 사용되고 있는 Ge2Sb2Te5의 한계점을 극복하고, 상변화 메모리 소자로 응용되기 위해 요구되는 저 전력, 빠른 동작속도, 높은 센싱 마진 등의 특성을 보이는 GeiSeiTe2 매질을 제조하여 결정화 온도 및 열적 특성을 분석하였다. 또한 DC 전압을 인가하여 I-V 특성을 분석하였으며, 실제 상변화 메모리 소자를 제작하여 전기적 펄스를 인가 후 전기적 펄스 인가에 따른 저항변화 특성을 살펴보았다.
  • 본 연구에서는 새로운 조성비를 갖는 칼코게나이드 계 GeiSeiTe2 의 상변화 소자를 제작하여 기초적인 특성을 분석하여 그 응용가능성을 관찰한 결과 다음과 같다. GeiSeiTej의 새로운 상변화 메모리 매질을 제조하여, DSC 분석 실험을 통하여 결정화 온도는 약 23L503 ℃로 나타났으며, 공융온도는 396.
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참고문헌 (11)

  1. S. R. Ovshinsky,'Reversible Electrical Switching Phenomena in Disordered Structures' Phys. Rev. Letters, Vol. 21, p. 1450, 1968 

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  3. H. B. Chung, C. Y. Park, 'Electrical Characteristics of the Thin Film Interface of Amorphous Chalcogenide Semiconductor.', KIEE, Vol. 29 No. 2 p. 37, 1980 

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  8. H. Horii et al. 'Novel cell structure of PRAM with thin metal layer inserted GeSbTe'. IEDM Tech. Dig. p. 901, 2003 

  9. S. J. Yang, K. Shin, J. I. Park, K. N. Lee, H. B. Chung,'The Study of Phase-change with Temperature and Electrical Field in Chalcogenide Thin Film', Trans. on EEM, Vol. 4, No. 5, p. 24, 2003 

  10. S. J. Yang, J. M. Lee, K. Shin, H. B. Chung, 'The Phase Transition with Electric Field in Ternary Chalcogenide Thin Films' Trans. on MME, Vol .5, No. 5, p. 185, 2004 

  11. J. M. Lee, S. J. Yang, K. Shin, H. B. Chung, 'The Study on the Characteristic of Phase Transition ill Difference Thickness of $Se_1Sb_2Te_2$ Thin Film' Trans. on MME, Vol. 5, No. 6, p. 241, 2004 

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