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[국내논문] 박막의 기계적 물성을 위한 새로운 인장 시편 및 인장 시험기
A Novel Tensile Specimen and Tensile Tester for Mechanical Properties of Thin Films 원문보기

大韓機械學會論文集. Transactions of the Korean Society of Mechanical Engineers. A. A, v.31 no.6 = no.261, 2007년, pp.644 - 650  

박준협 (동명대학교 메카트로닉스공학과) ,  김윤재 (고려대학교 기계공학과)

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

Mechanical property evaluation of micrometer-sized structures is necessary to help design reliable microelectromechanical systems(MEMS) devices. Most material properties are known to exhibit dependence on specimen size and such properties of microscale structures are not well characterized. This pap...

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문제 정의

  • 그래서 본 연구에서는 MEMS 재료의 정적 및 동적 성질의 간편한 측정을 위한 시편 구조를 다음과 같이 제안하였다.
  • 따라서 본 연구에서는 하중 제어가 쉬운 전자장력 액추에이터를 이용하여 시험기를 제작하였다. 전자장력의 원리는 일정 자장 내에 놓여진 구동코일(moving coil)에 전류를 흘려 가 진력을 얻는 것이다.
  • 본 연구를 통해서 MEMS 장치에 많이 사용되는 박막의 인장시험과 피로시험이 가능한 새로운 시편 구조의 설계와 시험기를 제작하였다. 새롭게 고안된 시편 형상은 체결 (gripping) 과 중심잡기 (alignment)가 용이하여 시편을 시험기에 장착하는 시간과 노력을 줄일 수 있었고, 특히 시편을 시험기에 장착 후 시편과 지지부를 연결하는 연결부들을 절단하는 방식으로 지지부를 제거할 때 약 78%의 시편을 사전 손상이 없이 시험을 진행할 수 있었다.
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참고문헌 (9)

  1. Johansson, S., Schweitz, J. A., Tenez, L. and Tiren, J., 1988, 'Fracture Testing of Silicon Micro-Elements in Situ in a Scanning Electron Microscope,' J. Appl. Phys. 62 (10), pp. 4799-4803 

  2. Komai, K., Minoshima, K., Tawara, H., Inoue, S. and Sunako, K., 1994, 'Development of Mechanical Testing Machine for Micro-Elements and Fracture Strength Evaluaion of Single-Crystalline Sislicon Micro-Elements,' Trans. Jpn. Sco., Mech. Eng. A 60- 569, pp. 52-58 

  3. Bromley, E. I., Randall, J.N., Flanders, D.C. and Mountain, R.W., 1983, 'A Techniqu for the Determination of Stress in Thin-Films,' J. Vac. Sci. Technol. B 1 (4), pp. 1364-1366 

  4. Tabata, O., Kawashata, K., Sugiyama, S. and Igarashi, I., 1989, 'Mechanical Property Measurement of Thin-Films Using Load-Deflection of Composite Rectangular Membrane,' in:Proceedings of the IEEE Micro-Electro Mechanical Systems Workshop, pp. 152-156 

  5. Sharpe Jr., W.N., Yuan, B., Vaidyanathan, R. and Edwards, R. L., 1997, 'Measurement of Young's Modulus, Poisson's Ratio, and Tensile Strength of Polysilicon,' in:Proceedings of the IEEE MEMS '97, pp. 424-429 

  6. Tsuchiya, T., Tabata, O., Sakata, J. and Taga, Y., 1997, 'Specimen Size Effect on Tensile Strength of Surface Micro-Machined Polycrystalline Silicon Thin-Films,' in:Proceedings of the IEEE MEMS '97, pp. 529-534 

  7. Cunningham, S.J., Suwito, W. and Read, D.T., 1995, 'Tensile Testing of Epitaxial Silicon Films,' Technical Digests of Transducers '95, pp. 96-99 

  8. Jones, R. V., 1951, 'Parallel and Rectilinear Spring Movements,' Journal of Scientific Instrumentationk, 28, pp. 38-41 

  9. Mohamed Gad-El-Hak, 2001, The MEMS handbook, CRC press 

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