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NTIS 바로가기신뢰성응용연구 = Journal of the applied reliability, v.7 no.1 = no.17, 2007년, pp.23 - 29
이승훈 (서울대학교 기계항공공학부) , 추성일 (한국과학기술연구원 나노바이오연구센터) , 김진혁 (한국과학기술연구원 나노바이오연구센터) , 한동철 (서울대학교 기계항공공학부) , 문성욱 (한국과학기술연구원 나노바이오연구센터)
Probe card is a test component which is to classify the known good die with electrical contact before the packaging in the ATE (automatic testing equipment). Conventional probe tip was mostly needle type, it has been difficult to meet with conventional type, because of decreasing chip size, pad to p...
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