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NTIS 바로가기한국정밀공학회지 = Journal of the Korean Society for Precision Engineering, v.24 no.9 = no.198, 2007년, pp.95 - 102
박근 (서울산업대학교 기계설계.자동화공학부) , 정현우 (서울산업대학교 기계설계.자동화공학부 대학원) , 박만진 (서울대학교 기계항공공학부 대학원) , 김동환 (서울산업대학교 나노생산기술연구소) , 장동영 (서울산업대학교 나노생산기술연구소)
The scanning electron microscope (SEM) is one of the most popular instruments available for the measurement and analysis of the micro/nano structures. It is equipped with an electron optical system that consists of an electron beam source, magnetic lenses, apertures, deflection coils, and a detector...
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