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실버 페이스트의 치밀화 및 비저항에 미치는 소결조제와 프릿의 영향
Effect of Sintering Aid and Glass-Frit on the Densification and Resistivity of Silver Paste 원문보기

한국재료학회지 = Korean journal of materials research, v.18 no.5, 2008년, pp.283 - 288  

이종국 (BK21 첨단소재부품금형기술인력양성사업단) ,  박성현 (BK21 첨단소재부품금형기술인력양성사업단) ,  양권승 (조선대학교 신소재공학과)

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The effect of sintering aids and glass-frit on the densification and resistivity of silver paste was investigated in an effort to enhance the sintered density and electrical conductivity of the silver electrode. To prepare Pb-free silver paste for use at low sintering temperatures, two commercial si...

주제어

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문제 정의

  • 본 연구에서는 무연계 프릿을 첨가한 실버 페이스트를 제조함에 있어서 열처리 온도가 낮고, 전기전도성이 높은 전극용 실버 후막의 제조 방법을 찾아보고자 하였다. 낮은 열처리 온도에서도 치밀도가 커지는 실버 페이스트를 제조하기 위하여 본 연구에서는 열처리 전 후막의 성형 밀도를 높여 궁극적으로 치밀도를 높이는 방법과 열처리 시 소결을 활성화시켜 밀도가 커지게 하는 방법을 사용하였다.
  • 낮은 열처리 온도에서도 치밀도가 커지는 실버 페이스트를 제조하기 위하여 본 연구에서는 열처리 전 후막의 성형 밀도를 높여 궁극적으로 치밀도를 높이는 방법과 열처리 시 소결을 활성화시켜 밀도가 커지게 하는 방법을 사용하였다. 이에 따라 우선 크기가 다른 두 종류의 실버 분말을 페이스트 제조의 출발원료로 사용하여 후막의 성형 밀도를 1차적으로 높이고자 하였으며, 저온 열처리에서의 소결을 촉진시키기 위한 방법으로 실버 나노 입자를 페이스트에 첨가하여 소결 조제로 활용하고자 하였다.
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질의응답

핵심어 질문 논문에서 추출한 답변
후막기술의 고도화에 따라 어떤 연구가 많이 이루어지고 있는가? 최근 후막기술은 미세패턴화, 다층화, 대면적화 및 저온 공정화가 요구되고 있는데, 후막기술의 고도화에 따라 전극용 도전성 페이스트에 대한 연구가 많이 이루어지고 있다.1-3) 전극용 도전성 페이스트는 도전성의 filler, 유리분말인 프릿, 용제인 vehicle 등으로 구성되는데, 도전성 filler는 대부분 금속 분말로서 전극의 도전경로를 형성하고, 프릿은 열처리 시 용융되어 도전성 filler의 치밀화를 유도할 뿐만 아니라 기판에 금속 filler를 고착시키는 역할을 한다.
도전성의 filler로 사용되는 금속 분말 중에서 실버 분말이 전자부품산업에 가장 많이 사용되는 이유는? 도전성 filler로 사용되는 금속분말 중에서 실버 분말은 도전성이 양호하고 화학적으로도 안정하므로 신뢰성이 높은 전자부품산업에 가장 많이 사용되고 있다.7) 이 중에 서도 PbO계 유리분말을 첨가한 실버 페이스트의 경우, 높은 전기 및 열 전도성을 가지기 때문에 실리콘 태양 전지, 혼성회로 그리고 여러 다양한 전자부품 패키징 분야에서 광범위하게 사용되고 있다.
최근 후막기술은 무엇이 요구되고 있는가? 최근 후막기술은 미세패턴화, 다층화, 대면적화 및 저온 공정화가 요구되고 있는데, 후막기술의 고도화에 따라 전극용 도전성 페이스트에 대한 연구가 많이 이루어지고 있다.1-3) 전극용 도전성 페이스트는 도전성의 filler, 유리분말인 프릿, 용제인 vehicle 등으로 구성되는데, 도전성 filler는 대부분 금속 분말로서 전극의 도전경로를 형성하고, 프릿은 열처리 시 용융되어 도전성 filler의 치밀화를 유도할 뿐만 아니라 기판에 금속 filler를 고착시키는 역할을 한다.
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참고문헌 (22)

  1. S. D. Park. H. G. Kang, Y. H. Park and J. D. Mun, J. Microelectrics and packaging Soc., 6(3), 25 (1999) 

  2. M. Skurski, M. Smith, R. Draudt, D. Amey, S. Horowiz and M. Champ, Int. J. Microcircuits and Electronic Packaging, 21(4), 355 (1998) 

  3. Y. B. Sohn, Bull. Kor. Ceram. Soc., 12(1), 44 (1997) 

  4. B. Walton, Radio Electron. Eng., 45, 139 (1975) 

  5. J. R. Larry, R. M. Rosenberg and R. O. Uhler, IEEE Trans. Compon. Packag. Techol., CHMT-3, 211 (1980) 

  6. R. W. Vest, Ceram. Bull., 65(44), 631 (1986) 

  7. H. H. Nersisyan, J. H. Lee, H. T. Son, C. W. Won and D. Y. Maeng, Mater. Res. Bull., 38(6), 949 (2003) 

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  10. M. M. Sohn, H. C. Park, H. S. Lee and Y. H. Kang, Kor. J. Mater. Res., 1(4), 206 (1991) 

  11. S. Rane, V. Puri and D. Amalnerkar, J. Mater. Sci. Mater. Electron., 11(9), 667 (2000) 

  12. C. R. Chang and J. H. Jean, J. Am. Ceram. Soc., 81(11), 2805 (1998) 

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  14. M. S. Chang, B. J. Pae, Y. K. Lee, B. G. Ryu and M. H. Park, J. Inform. Display 2(3), 39 (2001) 

  15. T. Takamori, Solder glasses, p.173, Academic Press. Inc., New York (1979) 

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  17. T. H. Ramsy, Solid Stast Tech., 15, 29 (1972) 

  18. Y. H. Jin, Y. W. Jeon, B. C. Lee and B. K. Ryu, J. Kor. Ceram. Soc., 39(2), 184 (2002) 

  19. T. Ogawa, M. Ootanai, T. Asai, M. Hasegawa and O. Ito, IEEE Trans. Comp. Hybrids Manuf. Technol., A17, 625 (1994) 

  20. S.H. Park. D.S Seo and J.K. Lee, J. Nanosci & Nanotech., 7(11), 3917 (2007) 

  21. R. M. German, Sintering Theory and Practice, p.178, John Wiley & Sons Inc., New York (1996) 

  22. S. H. Park. M. S. Thesis (in Korean) p. 82-87, Chosun University, Gwangju (2008) 

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