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초록
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Electron tomography의 정량적 분석을 위해서 대물렌즈 조리개가 투과빔의 강도에 미치는 영향을 평가하였다. Electron tomography에 도입되는 Beer's law의 올바른 적용을 위해서는 투과빔은 시료의 기울기에 따른 mass thickness의 변화에 의한 효과만을 반영해야 한다. 그러므로 빔 경로상의 대물렌즈 조리개, 홀더 등에 의한 다른 효과는 제거되어야 한다. 본 연구에서는 대물렌즈 조리개의 cut-off 효과를 120 kV TEM과 Quantifoil holey 카본 시료를 이용하여 상세히 평가하였다. 대물렌즈 조리개를 사용하지 않은 경우와 비교할 때, $30{\mu}m$ 크기의 대물렌즈 조리개를 통과한 투과전자빔의 강도는 약 16.7%의 감소가 일어난다. 또한 $55^{\circ}$ 이상의 고경사각 기울기에서는 대물렌즈 조리개의 cut-off 효과에 의해 14.2%의 강도 감소가 추가적으로 발생함을 알 수 있었다. Electron tomography에서 정량 분석을 위해서는 이러한 대물렌즈 조리개의 영향을 고려해야만 한다. 또한 Beer's law의 올바른 적용을 위해서는 일련의 기울기에 따른 2차원적 영상은 가능하면 대물렌즈 조리개를 사용하지 않은 상태에서 획득하는 것이 바람직하다.

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

We have evaluated the effects of experimental factors on transmitted electron beam intensities for quantitative analysis in electron tomography. For the correct application of Beer's law in electron tomography, the transmitted beam intensity should reflect the net effect of mass properties on beam p...

주제어

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문제 정의

  • Carl Zeiss TEM은 다른 장비와 달리 Köhler illumination system을 갖추고 있어서 형광판 또는 CCD 카메라에 도달하는 전자빔은 균일한 강도분포를 나타내기 때문에 본 연구의 목적에 적합한 장비라 할 수 있다.
  • 배율은 앞서서 측정한 경우와 동일한 조건을 맞추기 위해, 전자빔이 시료를 통과하는 부분과 통과하지 않는 부분이 적절히 나타나도록 5,000배로 고정하였다. 또한 에너지 여과장치의 슬릿 조리개를 제거하여 슬릿 조리개의 유동에 의한 전자빔의 불안정성을 억제하여 대물렌즈 조리개에 의한 효과를 정밀히 측정하고자 하였다. 14-bit CCD 카메라에 기록된 영상은 16 bit gray scales의 형식으로 저장되었다.
  • 본 연구에서는 electron tomography를 이용한 시료의 3차원적 복원에 있어서 보다 정량적인 결과를 도출하기 위해 가장 중요한 요소인 시료의 영상강도에 영향을 미칠 수 있는 빔 경로상의 실험적 요인에 대한 영향을 조사하고자 하며 특히, 시료를 통과한 투과빔의 강도에 직접적으로 영향을 주는 대물렌즈 조리개의 효과를 집중적으로 다루고자 한다.
  • 자동으로 2차원적 연속 기울기 이미지를 획득하는 장비 및 프로그램의 경우에 장비의 정렬상태가 나쁘거나 고니오미터의 불안정도를 보정하지 않는 상태로 실험을 수행하게 되면, 연속 기울기에 따른 시료의 이동과 초점의 조정량이 과대하게 되어 오히려 이미지의 콘트라스트 및 영상강도에 나쁜 영향을 주게 된다. 본 연구에서는 이러한 문제를 피하기 위해 수동으로 고니오미터를 미세하게 조정하여 연속기울기를 수행하였다.
  • Electron tomography를 이용한 3차원적 구조 복원을 위해서는 순수하게 시편의 기울기에 따른 투과전자빔의 강도만을 고려하여 Beer’s law를 적용해야 한다. 하지만 콘트라스트 증대를 위해 사용되는 대물렌즈 조리개의 크기에 따라 전자빔 강도의 왜곡이 발생함을 알 수 있었으며, 이에 대한 정량적인 평가를 수행하였다. 대물렌즈 조리개를 사용하지 않은 경우와 비교해 볼 때, 대물렌즈 조리개에 의한 cut-off 효과는 최대 16.
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질의응답

핵심어 질문 논문에서 추출한 답변
electron tomography란 무엇인가? Transmission electron microscope (TEM)를 이용하여 획득한 일련의 2차원적 영상들로부터 3차원적 정보를 추출해 내는 electron tomography는 의∙생물, 재료과학, 지질학 등 다양한 분야에서 시료의 구조적인 문제점을 해결하기 위해 널리 사용되어지고 있다. Electron tomography의 이론적인 접근은 처음으로 1917년에 정립되었으나(Radon, 1917), 실제로 TEM을 이용한 연구는 1968년도에 의∙생물 분야에서 시작이 되었으며(Hart, 1968; DeRosier & Klug, 1968), 최근에 TEM 장비의 급속한 발전과 더불어 재료∙화학분야(Midgley & Weyland, 2002; Friedrich et al.
Electron tomography를 이용한 시료의 3차원적 영상의 구현은 상용화된 분석프로그램을 사용하여 쉽고 빠르게 결과를 도출하여 낼 수 있지만, 실제로 복원된 영상의 신뢰도의 향상을 위해서는 아직도 많은 연구가 시도되고 있는데 그 이유는 무엇인가? Electron tomography를 이용한 시료의 3차원적 영상의 구현은 상용화된 분석프로그램을 사용하여 쉽고 빠르게 결과를 도출하여 낼 수 있지만, 실제로 복원된 영상의 신뢰도의 향상을 위해서는 아직도 많은 연구가 시도되고 있다. 그 이유는 2차원 영상을 획득할 때 발생하는 입사빔의 강도와 CCD 성능(Jou et al., 2008), 고니오미터 및 시료홀더의 성능(Kim et al., 2006)에 관계되는 문제로 인해 3차원적 복원 과정에서 영상의 잡음이 존재하기 때문이다.
HVEM을 사용하여 무엇의 영향력을 최소화할 수 있는가? 이외에도 high voltage electron microscope (HVEM)을 사용할 경우에는 대물렌즈 조리개의 영향력을 최소화할 수 있다. HVEM의 경우, 투과력이 강하기 때문에 상대적으로 콘트라스트는 저하되지만, 저전압 TEM과 동일한 크기인 30 μm의 대물렌즈 조리개를 이용하여 C-supporting film에 대한 투과전자빔의 강도를 측정한 결과, 약 4%의 전자빔 강도의 감소밖에 일어나지 않기 때문에 대물렌즈 조리개에 의한 오차를 줄일 수 있다(Unpublished data).
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참고문헌 (10)

  1. Danev R, Nagayama K: Single particle analysis based on zernike phase contrast microscopy. J Struct Biol 161 : 211-218, 2008 

  2. DeRosier DJ, Klug A: Reconstruction of three dimensional structures from electron micrographs. Nature 217 : 130-134, 1968 

  3. Friedricha H, McCartneyb MR, Busecka PR: Comparison of intensity distributions in tomograms from BFTEM, ADFSTEM, HAADFSTEM, and calculated tilt series. Ultramicroscopy 106 : 18-27, 2005 

  4. Hart RG: Electron microscopy of unstained biological material: the polytropic montage. Science 159 : 1464-1467, 1968 

  5. Jou HT, Lee S, Kim YJ, Suk BC: Model simulation for assessment of image acquision errors affecting electron tomography. Korean J Microscopy 38(1) : 51-61, 2008. (Korean) 

  6. Kim JG, Jeong JM, Kim YM, Kim YJ: Reliability test of the TEM rotation holder for 3-D structure analysis. Korean J Microscopy 36(3) : 209-216, 2006. (Korean) 

  7. Midgley PA, Weyland M: 3D electron microscopy in the physical sciences: the development of Z-contrast and EFTEM tomography. Ultramicroscopy 96 : 413-431, 2003 

  8. Pozsgai I: Thickness determination by measuring electron transmission in the TEM at 200 kV. Ultramicroscopy 68 : 69-75, 1997 

  9. Radon J: Ber. Verh. K. Sachs. Ges. Wiss. Leipzig, Math. Phys. Kl. 69 : 262, 1917 

  10. Williams DB, Carter CB: Transmission Electron Microscopy-A Textbook for Materials Science. Plenum Press, New York and London, pp. 69-83, 1995 

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