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NTIS 바로가기한국현미경학회지 = Korean journal of microscopy, v.38 no.4, 2008년, pp.285 - 291
김진규 (한국기초과학지원연구원 전자현미경연구부) , 이상희 (한국기초과학지원연구원 전자현미경연구부) , 권희석 (한국기초과학지원연구원 전자현미경연구부) , 정종만 (한국기초과학지원연구원 전자현미경연구부) , 정원구 (한국기초과학지원연구원 전자현미경연구부) , 이수정 (한국지질자원연구원 자원활용소재연구부) , 주형태 (한국해양연구원 해양위성.관측기술연구부) , 김윤중 (한국기초과학지원연구원 전자현미경연구부)
We have evaluated the effects of experimental factors on transmitted electron beam intensities for quantitative analysis in electron tomography. For the correct application of Beer's law in electron tomography, the transmitted beam intensity should reflect the net effect of mass properties on beam p...
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핵심어 | 질문 | 논문에서 추출한 답변 |
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electron tomography란 무엇인가? | Transmission electron microscope (TEM)를 이용하여 획득한 일련의 2차원적 영상들로부터 3차원적 정보를 추출해 내는 electron tomography는 의∙생물, 재료과학, 지질학 등 다양한 분야에서 시료의 구조적인 문제점을 해결하기 위해 널리 사용되어지고 있다. Electron tomography의 이론적인 접근은 처음으로 1917년에 정립되었으나(Radon, 1917), 실제로 TEM을 이용한 연구는 1968년도에 의∙생물 분야에서 시작이 되었으며(Hart, 1968; DeRosier & Klug, 1968), 최근에 TEM 장비의 급속한 발전과 더불어 재료∙화학분야(Midgley & Weyland, 2002; Friedrich et al. | |
Electron tomography를 이용한 시료의 3차원적 영상의 구현은 상용화된 분석프로그램을 사용하여 쉽고 빠르게 결과를 도출하여 낼 수 있지만, 실제로 복원된 영상의 신뢰도의 향상을 위해서는 아직도 많은 연구가 시도되고 있는데 그 이유는 무엇인가? | Electron tomography를 이용한 시료의 3차원적 영상의 구현은 상용화된 분석프로그램을 사용하여 쉽고 빠르게 결과를 도출하여 낼 수 있지만, 실제로 복원된 영상의 신뢰도의 향상을 위해서는 아직도 많은 연구가 시도되고 있다. 그 이유는 2차원 영상을 획득할 때 발생하는 입사빔의 강도와 CCD 성능(Jou et al., 2008), 고니오미터 및 시료홀더의 성능(Kim et al., 2006)에 관계되는 문제로 인해 3차원적 복원 과정에서 영상의 잡음이 존재하기 때문이다. | |
HVEM을 사용하여 무엇의 영향력을 최소화할 수 있는가? | 이외에도 high voltage electron microscope (HVEM)을 사용할 경우에는 대물렌즈 조리개의 영향력을 최소화할 수 있다. HVEM의 경우, 투과력이 강하기 때문에 상대적으로 콘트라스트는 저하되지만, 저전압 TEM과 동일한 크기인 30 μm의 대물렌즈 조리개를 이용하여 C-supporting film에 대한 투과전자빔의 강도를 측정한 결과, 약 4%의 전자빔 강도의 감소밖에 일어나지 않기 때문에 대물렌즈 조리개에 의한 오차를 줄일 수 있다(Unpublished data). |
Danev R, Nagayama K: Single particle analysis based on zernike phase contrast microscopy. J Struct Biol 161 : 211-218, 2008
DeRosier DJ, Klug A: Reconstruction of three dimensional structures from electron micrographs. Nature 217 : 130-134, 1968
Friedricha H, McCartneyb MR, Busecka PR: Comparison of intensity distributions in tomograms from BFTEM, ADFSTEM, HAADFSTEM, and calculated tilt series. Ultramicroscopy 106 : 18-27, 2005
Hart RG: Electron microscopy of unstained biological material: the polytropic montage. Science 159 : 1464-1467, 1968
Jou HT, Lee S, Kim YJ, Suk BC: Model simulation for assessment of image acquision errors affecting electron tomography. Korean J Microscopy 38(1) : 51-61, 2008. (Korean)
Kim JG, Jeong JM, Kim YM, Kim YJ: Reliability test of the TEM rotation holder for 3-D structure analysis. Korean J Microscopy 36(3) : 209-216, 2006. (Korean)
Midgley PA, Weyland M: 3D electron microscopy in the physical sciences: the development of Z-contrast and EFTEM tomography. Ultramicroscopy 96 : 413-431, 2003
Pozsgai I: Thickness determination by measuring electron transmission in the TEM at 200 kV. Ultramicroscopy 68 : 69-75, 1997
Radon J: Ber. Verh. K. Sachs. Ges. Wiss. Leipzig, Math. Phys. Kl. 69 : 262, 1917
Williams DB, Carter CB: Transmission Electron Microscopy-A Textbook for Materials Science. Plenum Press, New York and London, pp. 69-83, 1995
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