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공정능력지수들과 6 시그마 품질수준에 대한 통계적 추론
Statistical Inference for Process Capability Indices and 6 Sigma Qualify Levels 원문보기

한국통계학회 논문집 = Communications of the Korean Statistical Society, v.15 no.3, 2008년, pp.451 - 464  

조중재 (충북대학교 정보통계학과) ,  심규영 (충북대학교 정보통계학과) ,  박병선 (통계청 경제통계국 분석통계팀)

초록
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6 시그마는 백만 기회당 3.4개의 결점만을 갖는 최고의 품질수준을 의미한다. 일반적으로 높은 시그마 품질수준은 고객들에게 높은 만족도를 부여하는 것으로 알려져 있다. 공정능력지수들과 시그마 품질수준 $Z_{st}$는 6시그마 산업에서 공정능력을 평가하기 위하여 널리 이용되고 있다 공정능력지수에 관한 대부분의 평가들은 공정능력분석에 대해 경우에 따라 믿기 어려운 상황을 초래할 수도 있는 점 추정에 초점을 두고 있다. 본 논문에서는 현장 실무자들이 공정능력 여부를 결정하기 위하여 사용하고 있는 6시그마 품질수준 $Z_{st}$와 공정능력지수들 $C_p$, $C_{pk}$와 $C_{pm}$에 대하여 몇 가지 통계적 추정문제를 기초로 보다 효율적인 검정 방법에 대하여 제안, 연구하였다. 제안된 붓스트랩 검정 방법에 근거한 모의실험 결과는 공정분포의 정규성 여부에 관계없이 그리고 복잡한 계산 과정 없이 보다 효율적으로 적용될 수 있음을 입증하고 있다.

Abstract ▼ AI-Helper 아이콘AI-Helper

Six sigma is the rating that signifies "best in clas", with only 3.4 defects per million units or operations. Higher sigma quality level is generally perceived by customers as improved performance by assigning a correspondingly higher satisfaction score. The process capability indices and the sigma ...

주제어

#공정능력지수   #품질수준   #가설검정   #붓스트랩 방법   #유의확률   #몬테칼로 실험   #근사 정규분포  

참고문헌 (11)

  1. Cho, J. J., Kim, J. S. and Park, B. S. (1999). Better nonparametric bootstrap confidence intervals for capability index $C_{pk}$ , The Korean Journal of Applied Statistics, 12, 45-65 

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  2. Cho, J. J., Han, J. H. and Cho, S. H. (1997). Bootstrapping unified process capability index, Journal of the Korean Statistical Society, 26, 543-544 

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  3. Cho, J. J. and Lim, S. D. (2006). Better statistical test for process capability index $C_p$ , Journal of the Korean Society for Quality Management, 34, 66-72 

  4. Diciccio, T. and Tibshirani, R. (1987). Bootstrap confidence intervals and bootstrap approximations, Journal of the American Statistical Association, 82, 163-170 

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  5. Efron, B. (1979). Bootstrap methods: Another look at the jackknife, The Annals of Statistics, 7, 1-26 

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  6. Efron, B. and Tibshirani, R. J. (1993). An Introduction to the Bootstrap, Chapman & Hall/CRC, New York 

  7. Franklin, L. A. and Wasserman, G. S. (1992). Bootstrap lower confidence limits for capability indices, Journal of Quality Technology, 24, 196-210 

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  8. Hall, P. (1988). Theoretical comparison of bootstrap confidence intervals, The Annals of Statistics, 16, 927-953 

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  10. Lin, P. C. and Pearn, W. L. (2002). Testing process capability for one-sided specification limit with application to the voltage level translator, Microelectronics Reliability, 42, 1975-1983 

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  11. Pearn, W. L., Yang, S. L., Chen, K. S. and Lin, P. C. (2001). Testing process capability using the index $C_{pmk}$ with an application, International Journal of Reliability Quality and Safety Engineering, 8, 15-34 

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