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[국내논문] 4H-SiC 쇼트키 다이오드의 해석적 항복전압과 온-저항 모델
Analytical Models for Breakdown Voltage and Specific On-Resistance of 4H-SiC Schottky Diodes 원문보기

電子工學會論文誌. Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea. SD, 반도체, v.45 no.6 = no.372, 2008년, pp.22 - 27  

정용성 (서라벌대학 팬시완구디자인과)

초록
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4H-SiC의 전자와 정공의 이온화계수 $\alpha$$\beta$로부터 유효이온화계수 $\gamma$를 추출함으로써 4H-SiC 쇼트키 다이오드의 항복전압과 온-저항을 위한 해석적 모델을 유도하였다. 해석적 모델로부터 구한 항복전압을 실험 결과와 비교하였고, 도핑 농도 함수의 온-저항도 이미 발표된 결과와 비교하였다. 항복전압은 $10^{15}{\sim}10^{18}\;cm^{-3}$의 도핑 농도 범위에서 실험 결과와 10% 이내의 오차로 잘 일치하였다. 온-저항을 위한 해석적 결과는 $3{\times}10^{15}{\sim}2{\times}10^{16}\;cm^{-3}$의 범위에서 실험 결과와 매우 잘 일치하였다.

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

Analytical models for breakdown voltage and specific on-resistance of 4H-silicon carbide Schottky diodes have been derived successfully by extracting an effective ionization coefficient $\gamma$ from ionization coefficients $\alpha$ and $\beta$ for electron and hole ...

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  • The purpose of this paper is to report simple analytical model of the breakdown voltage and specific on-resistance for 4H~SiC Schottky diodes by employing an effective ionization coefficient. Since no measurements for 4H-SiC avalanche ionization rates have been reported, the impact ionization parameters^' for 6H~SiC are used .
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참고문헌 (22)

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  22. B. J. Baliga, Power Semiconductor Devices. Boston, MA: PWS, 1996 

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