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초록
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본 논문에서는 새로운 스위칭 방식인 LFS (Local Field Switching)을 이용하여 설계한 128비트 MRAM (Magnetoresistive Random Access Memo교)에 대해 기술하였다. LFS 방식은 MTJ (Magnetic Tunnel Junction)를 직접 통과해 흐르는 전류에 의해 형성되는 국소 자기장을 이용하여 MTJ의 극성을 변환시킨다. 이 방식은 MTJ와 전류의 거리가 가깝기 때문에 작은 전류로도 충분히 큰 자기장을 형성하므로 writing current가 적어도 된다. 또한 Digit Line이 없어도 되므로 half select disturbance가 발생하지 않아 기존 MTJ를 이용한 방식에 비해 셀 선택도가 우수하다. 설계한 MRAM은 IT(트랜지스터)-1MTJ의 메모리 셀 구조를 가지며 양방향 write driver와 mid-point reference cell block, current mode sense amplifier를 사용한다. 그리고 MTJ 공정 없이 회로 동작을 확인하기 위해 LFS-MTJ cell을 CMOS emulation cell로 대체하였다. 설계한 회로를 6 metal을 사용하는 $0.18{\mu}m$ CMOS 공정으로 구현하였고 제작된 chip을 custom board 상에서 테스트하여 동작을 확인하였다.

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

In this paper, we describe a design of a 128bit MRAM based on a new switching architecture which is Local Field Switching(LFS). LFS uses a local magnetic field generated by the current flowing through an MTJ. This mode reduces the writing current since small current can induce large magnetic field b...

Keyword

AI 본문요약
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* AI 자동 식별 결과로 적합하지 않은 문장이 있을 수 있으니, 이용에 유의하시기 바랍니다.

문제 정의

  • 사항이다. (4) 따라서 half sela:t disturbance를 해결하기 위해 새로운 cell 구조들이 제안되고 있는데 본 논문에서는 Local Field Switching(LFS)-MTJ 구조를 이용하여 설계한 MRAM을 소개한다.
  • Memory의 storage element 인 MTJ를 제외한 core block 대부분과 peripheral blocke CMOS 공정으로 이뤄진다. 본 논문에서는 MTJ 공정의 어려움으로 인해 CMOS 공정만으로 전체 회로의 올바른 동작을 확인하기 위해 MTJ cell을 CMOS emulation cell로 대체하여 검증하였다.

가설 설정

  • Write 동작 시에는 DL이 enable 되고 위에서 살펴본 write dHver에서 결정된 wrdrv.H, wrdiv丄의 전압 레벨이 래치로 전달된다. 윗부분은 read 동작을 위한 것으로 래치에 저장된 data에 따라 BL이 Rh 또는 Rl에 연결되게 된다.
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참고문헌 (7)

  1. S. Tehrani, J. M. Slaughter, M. Deherrera et al., "Magnetoresistive Random Access Memory Using Magnetic Tunnel Junctions", Proc. IEEE, Vol. 91, No. 5, pp. 703-714, 2003 

  2. 김태완, 김기원, 황인준, "고집적 MRAM 개발을 위한 기술적 현안", 전자공학회지, 제32권, 제2호, 35-43쪽, 2005년 2월 

  3. Brad N. Engel, Nicholas D. Rizzo, Jason Janesky et al., "The Science and Technology of Magnetoresistive Tunneling Memory", IEEE Transactions on nanotechnology, Vol. 1, No. 1, p. 32, 2002 

  4. Injun Hwang et al., "A New Switching Architecture for MRAM : Local Field Switching", Digests of 2005 INTERMAG Asia, pp. 845-846, 2005 

  5. S. Y. Lee et al., "A New Reference Cell for 1T-1MTJ MRAM", Journal of Semiconductor Technology and Science, Vol. 4, No. 2, pp. 110-116, 2004 

  6. 유회준, "DRAM의 설계", 홍릉과학출판사, pp. 311-314, 1996 

  7. Goor, A. J. van de, "Testing semiconductor memories : theory and practice", J. Wiley & Sons, pp. 93-105, 1991. (775) 

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